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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-11-28 16:25 テスト圧縮効率化のためのテスト生成法の一考察 ○楠山友紀乃・山崎達也・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）  VLD2012-105 DC2012-71 |
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| 抄録 | （和） | 近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，テスト対象となる故障モデル数と故障数の増加により，テストパターン数が増大している．テスト品質を維持しながらテストパターン数を削減する方法として，テスト圧縮技術がある．本論文では，2重検出，ドントケア抽出，テストパターンの併合から構成される一連の技術を，圧縮バッファ中のテスト集合に適用する概念を用いた動的テスト圧縮法を提案する．また，ケアビット数が多いテストパターンで検出されると予想できる故障を，できるだけ早い段階でテスト生成するために，テスト生成影響範囲を用いた故障選択法を提案する．ISCAS’89ベンチマーク回路に，本提案手法を適用した結果，一部の小規模回路に対しては現時点で知られている最小のサイズよりも小さいテスト集合を得ることができた． |
| （英） | In recent year, the numbers of target fault models and faults for testing increase because the number of gates on VLSIs is increasing and their complexity is growing with advances in semiconductor technology. As the result, the number of test patterns drastically increases. Many test compaction methods have been proposed to reduce the number of test patterns maintaining fault coverage. In this paper, we propose a dynamic test compaction method in which double detection, don’t care identification, and test pattern merge techniques are applied to a test set in a compaction buffer. We also propose a primary fault selection using influence cones for test generation to generate test patterns for faults which are predicted to be detected by test patterns with many care bits in an early stage. Experimental results for some small circuits of ISCAS’89 benchmark circuits show that the numbers of generated test patterns by our proposed methods are the almost same as the minimal numbers of test patterns. | |
| キーワード | （和） | 圧縮バッファ内テスト圧縮 / テスト生成影響範囲 / 2重検出 / ドントケア抽出 / 故障選択 / / / |
| （英） | test compaction in a compaction buffer / influence cones for test generation / double detection / don’t care identification / fault selection / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 321, DC2012-71, pp. 267-272, 2012年11月. | |
| 資料番号 | DC2012-71 | |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2012-105 DC2012-71 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2012-11-26 - 2012-11-28 |
| 開催地（和） | 九州大学百年講堂 |
| 開催地（英） | Centennial Hall Kyushu University School of Medicine |
| テーマ（和） | デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テスト圧縮効率化のためのテスト生成法の一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Test Generation for Effective Test Compaction |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 圧縮バッファ内テスト圧縮 / test compaction in a compaction buffer |
| キーワード(2)（和/英） | テスト生成影響範囲 / influence cones for test generation |
| キーワード(3)（和/英） | 2重検出 / double detection |
| キーワード(4)（和/英） | ドントケア抽出 / don’t care identification |
| キーワード(5)（和/英） | 故障選択 / fault selection |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 楠山 友紀乃 / Yukino Kusuyama / クスヤマ ユキノ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 達也 / Tatuya Yamazaki / ヤマザキ タツヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyusyu University (略称： Kyusyu Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 明治大学 (略称： 明大) Meiji University (略称： Meiji Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-11-28 16:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2012-105, DC2012-71 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.320(VLD), no.321(DC) |
| ページ範囲 | pp.267-272 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) |
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