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講演抄録/キーワード
講演名 2012-11-28 15:20
遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法
若杉諒介細川利典日大)・吉村正義九大VLD2012-103 DC2012-69
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 112, no. 321, DC2012-69, pp. 255-260, 2012年11月.
資料番号 DC2012-69 
発行日 2012-11-19 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード VLD2012-103 DC2012-69

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2012-11-26 - 2012-11-28 
開催地(和) 九州大学百年講堂 
開催地(英) Centennial Hall Kyushu University School of Medicine 
テーマ(和) デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A don't care filling method improve fault sensitization coverage on transition fault test set 
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 若杉 諒介 / Ryosuke Wakasugi / ワカスギ リョウスケ
第1著者 所属(和/英) 日本大学大学院 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第3著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyusyu University (略称: Kyusyu Univ)
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講演者
発表日時 2012-11-28 15:20:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2012-103,IEICE-DC2012-69 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.320(VLD), no.321(DC) 
ページ範囲 pp.255-260 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2012-11-19,IEICE-DC-2012-11-19 


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