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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-11-26 16:50 商用FPGAのばらつきとBTIによる経年劣化 ○石井翔平（京都工繊大）・小林和淑（京都工繊大/JST）  VLD2012-72 DC2012-38 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では微細化に伴い顕著になってきたFPGAのばらつきや経年劣化に関する問題に着目し、BTIによるFPGAの経年劣化を定量的に評価し、ばらつきと経年劣化の関連性を示す。90nmと60nmプロセスFPGAの経年劣化の測定を行うために、FPGA上にリングオシレータをマッピングして、その発振周波数の標準偏差を実測した。FPGAの経年劣化に関する測定では温度を室温(25℃)、80℃に保ち、30,000秒経過までの発振周波数のばらつきを測定した。 |
| （英） | In this paper, we focus on problems concerning variations and degradation on FPGAs which has become dominant due to scaling and quantitatively estimate the degradation of FPGAs by BTI. In addition, we show connection of variation and degradation. To measure degradation of 90nm and 60nm FPGAs, we mapped ring oscillators on FPGAs and measured standard deviation of oscillation frequency. As for degradation of FPGAs, we measured variations of oscillation frequency until 30,000 seconds passed at room temperature (25 degrees) or 80 degrees. | |
| キーワード | （和） | BTI / FPGA / ばらつき / 経年劣化 / / / / |
| （英） | BTI / FPGA / Variation / Degradation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 320, VLD2012-72, pp. 75-80, 2012年11月. | |
| 資料番号 | VLD2012-72 | |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2012-72 DC2012-38 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2012-11-26 - 2012-11-28 |
| 開催地（和） | 九州大学百年講堂 |
| 開催地（英） | Centennial Hall Kyushu University School of Medicine |
| テーマ（和） | デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 商用FPGAのばらつきとBTIによる経年劣化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Variations and BTI-induced Aging Degradation on Commercial FPGAs |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BTI / BTI |
| キーワード(2)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(3)（和/英） | ばらつき / Variation |
| キーワード(4)（和/英） | 経年劣化 / Degradation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石井 翔平 / Shouhei Ishii / イシイ ショウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大/JST) Kyoto Institute of Technology (略称： KIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-11-26 16:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2012-72, DC2012-38 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.320(VLD), no.321(DC) |
| ページ範囲 | pp.75-80 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) |
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