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講演抄録/キーワード
講演名 2012-11-26 16:00
ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響
松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大VLD2012-70 DC2012-36
抄録 (和) 近年のLSI素子の微細化により、NBTIおよび、RTNなどのゲート絶縁膜の信頼性が回路の信頼性に与える影響がますます深刻になってきた。本研究ではRTNが回路の信頼性に与える影響を40nm CMOSテクノロジにおいて試作した回路によって実測した結果に基づいて報告する。微細なサイズのインバータで構成される組合せ回路遅延ゆらぎを1,655個のリング発振回路で実測するとともに、基板バイアスがRTNによる遅延ゆらぎに対して与える影響を明らかにした。 
(英) Designing reliable systems has become more difficult in recent years.
In this paper, statistical nature of RTN-induced delay fluctuation is described by measuring 1,655 ROs fabricated in a commercial 40 nm CMOS technology. We also investigated the impact of body-biasing technique on RTN-induced circuit delay fluctuation.
キーワード (和) ディペンダブルVLSI / CMOS / RTN / 基板バイアス技術 / / / /  
(英) dependable VLSI / CMOS / RTN / Body-Biasing Technique / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 320, VLD2012-70, pp. 63-68, 2012年11月.
資料番号 VLD2012-70 
発行日 2012-11-19 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2012-70 DC2012-36

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2012-11-26 - 2012-11-28 
開催地(和) 九州大学百年講堂 
開催地(英) Centennial Hall Kyushu University School of Medicine 
テーマ(和) デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Impact of Body-Biasing Technique on RTN-induced Delay Fluctuation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ディペンダブルVLSI / dependable VLSI  
キーワード(2)(和/英) CMOS / CMOS  
キーワード(3)(和/英) RTN / RTN  
キーワード(4)(和/英) 基板バイアス技術 / Body-Biasing Technique  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 松本 高士 / Takashi Matsumoto / マツモト タカシ
第1著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ
第2著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ
第3著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
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講演者
発表日時 2012-11-26 16:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-VLD2012-70,IEICE-DC2012-36 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.320(VLD), no.321(DC) 
ページ範囲 pp.63-68 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2012-11-19,IEICE-DC-2012-11-19 


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