講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-11-22 10:45
誘電体基板測定用平衡形円板共振器法の測定可能範囲に関する検討 ○小林禧夫(サムテック) MW2012-121 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2012-121 |
抄録 |
(和) |
同軸励振平衡形円板共振器法は、マルチ共振モードを用いることにより誘電体基板の垂直方向の複素誘電率の周波数依存性を測定できるため、最近よく利用されている。本報告では、周波数、試料厚さ、比誘電率、誘電正接に関してそれらの測定可能範囲について検討する。その結果、本測定法は、3~110GHzの周波数範囲、0.05~2mmの試料厚範囲、1.1~10の比誘電率範囲、0.0001~0.2の誘電正接範囲に対して測定可能な結論を得た。 |
(英) |
Balanced-type circular disk resonator method, excited by coaxial lines, is commonly used to measure the frequency dependence of the complex relative permittivity of dielectric substrates. In this paper, the measurement permissible ranges are discussed for frequency range, substrate thickness, relative permittivity, loss tangent, which result in the frequency range of 3~110GHz, substrate thickness of 0.05~2mm, relative permittivity of 1.1~10, and loss tangent of 0.0001~0.02. |
キーワード |
(和) |
複素誘電率 / 誘電体基板 / 周波数依存性測定 / マイクロ波 / ミリ波 / / / |
(英) |
Complex permittivity / Dielectric substrate / Frequency dependent measurement / Microwave / Millimeter-wave / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 312, MW2012-121, pp. 47-50, 2012年11月. |
資料番号 |
MW2012-121 |
発行日 |
2012-11-14 (MW) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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