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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-11-15 17:05 海外調達基板の評価方法の一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所）  R2012-67 |
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| 抄録 | （和） | 海外調達品は工程審査をしても通常の管理の推察がし難いこともあって試験評価が非常に大切である。この評価は基準値に対してクリアしているかどうかで行われることが多い。しかしそれでは非常に重要な欠陥を見落とすという事例から必要な試験評価基準を提案する。 同時に試験済品の解体解析の重要性を説明する。 |
| （英） | The evaluation test for the goods procurement from overseas is important because the estimation for the process control is difficult even though the process inspection. The most evaluation is set whether the test result meets the standard value or not. However, we propose the necessary test evaluation standard, because we may miss the important defect as the actual example. We also explain the teardown analysis importance for the tested sample. |
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| キーワード | （和） | 絶縁抵抗劣化 / イオンマイグレーション / ソルダレジスト / / / / / |
| （英） | ｉｎｓｕｌａｔｉｏｎ ｆａｉｌｕｒｅ / ｉｏｎ-ｍｉｇｒａｔｉｏｎ / ｓｏｌｄｅｒ-ｒｅｓｉｓｔ / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 284, R2012-67, pp. 37-40, 2012年11月. | |
| 資料番号 | R2012-67 | |
| 発行日 | 2012-11-08 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2012-67 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2012-11-15 - 2012-11-15 |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2012-11-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 海外調達基板の評価方法の一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Studay on Evaluation for PWB |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 絶縁抵抗劣化 / ｉｎｓｕｌａｔｉｏｎ ｆａｉｌｕｒｅ |
| キーワード(2)（和/英） | イオンマイグレーション / ｉｏｎ-ｍｉｇｒａｔｉｏｎ |
| キーワード(3)（和/英） | ソルダレジスト / ｓｏｌｄｅｒ-ｒｅｓｉｓｔ |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 貞則 / Sadanori Ito / |
| 第1著者 所属（和/英） | イトケン事務所 (略称： イトケン事務所) itoken office (略称： itoken) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-11-15 17:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2012-67 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.284 |
| ページ範囲 | pp.37-40 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2012-11-08 (R) |
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