お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2012-10-25 15:45
AR-XPS及びHAX-PESによるSiO2/SiC界面の化学結合状態評価
岡田葉月小松 新渡辺将人東京都市大)・泉 雄大室 隆圭介高輝度光科学研究センター)・澤野憲太郎野平博司東京都市大SDM2012-90 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2012-90
抄録 (和) 我々は、SPring-8のBL27SUでSiO2/SiCの角度分解X線光電子分光(AR-XPS)測定とエッチングにより酸化膜厚を変化させたSiO2/SiC界面構造を硬X線光電子分光法(HAX-PES)により調べた。これら測定から、SiO2/SiC界面にはサブオキサイドが存在することを見出した。また、SiC中のC-C結合およびSiO2中の炭素に起因すると考えられる信号を見出した。 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) SiC / SiO2/SiC界面 / XPS / AR-XPS / HAX-PES / / /  
(英) SiC / SiO2/SiC / XPS / AR-XPS / HAX-PES / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 263, SDM2012-90, pp. 5-9, 2012年10月.
資料番号 SDM2012-90 
発行日 2012-10-18 (SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2012-90 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2012-90

研究会情報
研究会 SDM  
開催期間 2012-10-25 - 2012-10-26 
開催地(和) 東北大学未来研 
開催地(英) Tohoku Univ. (Niche) 
テーマ(和) プロセス科学と新プロセス技術 
テーマ(英) Process science and new process technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2012-10-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) AR-XPS及びHAX-PESによるSiO2/SiC界面の化学結合状態評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) AR-XPS and HAX-PES Studies on Chemical bonding states at SiO2/SiC Interfaces 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) SiC / SiC  
キーワード(2)(和/英) SiO2/SiC界面 / SiO2/SiC  
キーワード(3)(和/英) XPS / XPS  
キーワード(4)(和/英) AR-XPS / AR-XPS  
キーワード(5)(和/英) HAX-PES / HAX-PES  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡田 葉月 / Hazuki Okada / オカダ ハヅキ
第1著者 所属(和/英) 東京都市大学 (略称: 東京都市大)
Tokyo City University (略称: Tokyo City Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小松 新 / Arata Komatsu / コマツ アラタ
第2著者 所属(和/英) 東京都市大学 (略称: 東京都市大)
Tokyo City University (略称: Tokyo City Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡辺 将人 / Masato Watanabe / ワタナベ マサト
第3著者 所属(和/英) 東京都市大学 (略称: 東京都市大)
Tokyo City University (略称: Tokyo City Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 泉 雄大 / Yudai Izumi / イズミ ユウダイ
第4著者 所属(和/英) (財)高輝度光科学研究センター (略称: 高輝度光科学研究センター)
Japan Synchrotron Radiation Research Institute (略称: JASRI)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 室 隆圭介 / Takayuki Muro / ムロ タカユキ
第5著者 所属(和/英) (財)高輝度光科学研究センター (略称: 高輝度光科学研究センター)
Japan Synchrotron Radiation Research Institute (略称: JASRI)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤野 憲太郎 / Kentaro Sawano / サワノ ケンタロウ
第6著者 所属(和/英) 東京都市大学 (略称: 東京都市大)
Tokyo City University (略称: Tokyo City Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 野平 博司 / Hiroshi Nohira / ノヒラ ヒロシ
第7著者 所属(和/英) 東京都市大学 (略称: 東京都市大)
Tokyo City University (略称: Tokyo City Univ.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2012-10-25 15:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2012-90 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.263 
ページ範囲 pp.5-9 
ページ数
発行日 2012-10-18 (SDM) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会