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講演抄録/キーワード
講演名 2012-10-19 15:25
拡張蓄積疲労モデルにおけるシミュレーション
作村建紀廣瀬英雄九工大R2012-58
抄録 (和) 機器にストレスを一定時間与え,その時間耐えたら段階的にストレスレベルを上げ,これを機器が破壊するまで繰り返す段階的上昇法の破壊確率を表すモデルには蓄積疲労モデルがよく用いられている.与えたストレス時間に応じて疲労が蓄積するというモデルは信頼性分野で広く受け入れられている.一方,ストレスを一定時間与えてもストレスを一旦休止した段階で疲労は解消してしまうという忘却モデルも考えられる.これら両者を含むモデルとして拡張蓄積疲労モデルが提案されている.ここではこのモデルに基づくシミュレーション結果について述べる. 
(英) The cumulative exposure model is often used to express the failure probability model in step-stress accelerated life test; the step-up procedure continues until a break down occurs. This probability model is widely accepted in reliability fields because accumulation of fatigue is considered to be reasonable. Contrary to this, the memoryless model is also used in electrical engineering because accumulation of fatigue is not observed in some cases. The extended cumulative exposure model includes features of both the described models. In this paper, we report the simulation study results based on this model.
キーワード (和) 寿命予測 / 段階的上昇法 / 拡張蓄積疲労モデル / ワイブルベキ乗則 / / / /  
(英) step-stress accelerated life test / extended cumulative exposure model / Weibul power law / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 252, R2012-58, pp. 23-28, 2012年10月.
資料番号 R2012-58 
発行日 2012-10-12 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2012-58

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2012-10-19 - 2012-10-19 
開催地(和) 九州工業大学 
開催地(英)  
テーマ(和) 信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2012-10-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 拡張蓄積疲労モデルにおけるシミュレーション 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Simulation of the Extended Cumulative Exposure Model 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 寿命予測 / step-stress accelerated life test  
キーワード(2)(和/英) 段階的上昇法 / extended cumulative exposure model  
キーワード(3)(和/英) 拡張蓄積疲労モデル / Weibul power law  
キーワード(4)(和/英) ワイブルベキ乗則 /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 作村 建紀 / Takenori Sakumura / サクムラ タケノリ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 廣瀬 英雄 / Hideo Hirose /
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
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講演者
発表日時 2012-10-19 15:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 R 
資料番号 IEICE-R2012-58 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.252 
ページ範囲 pp.23-28 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2012-10-12 


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