講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-09-19 15:05
FPGAシステムのソフトエラー耐性評価におけるブートストラップ法による高速化 ○高野光平・一ノ宮佳裕・尼崎太樹・久我守弘・飯田全広・末吉敏則(熊本大) RECONF2012-45 |
抄録 |
(和) |
SRAM型FPGA (Field Programmable Gate Array) は高い柔軟性を持つ反面,ソフトエラーに対して脆弱であり,その影響で回路故障を引き起こす恐れがある.そのため,高い信頼性が要求されるシステムに適用するには,実装回路の信頼性を保証する信頼性評価技術が重要となる.現在の評価手法は,再構成を用いて構成メモリにビットエラーを注入し,その影響を観測する手法が一般的である.しかし,多くの研究ではソフトエラーの蓄積を考慮しておらず,故障緩和や動的復旧が可能な高信頼回路の評価に適していない.著者らは,ソフトエラーの蓄積を考慮した信頼性評価を目的とし,その際問題となる評価時間を短縮するためブートストラップ法を適用した.ブートストラップ法を適用することで,大幅な時間短縮が可能であり,また,十分な精度の結果を得ることができた. |
(英) |
SRAM-based field programmable gate arrays (FPGAs) are vulnerable to a single event upset (SEU). Although techniques for designing dependable circuits have been studied extensively. However, currently available evaluation techniques that can be used to check the dependability of these dependable circuit are inadequate. Current fault-injection(FI) analyses do not consider SEU accumulation, and hence, they are not suitable for evaluating a dependable circuit. In this paper, we propose an FI-based evaluation method to handle fault-accumulation. In order to achieve this evaluation result, we applied the bootstrap method. By applying the bootstrap method, we obtained the accurate result in a short evaluation time. |
キーワード |
(和) |
ソフトエラー / SEU / フォルト注入解析 / ブートストラップ法 / 高信頼回路 / 部分再構成 / / |
(英) |
soft error / SEU / fault-injection analysis / bootstrap method / dependable circuit / partial reconfiguration / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 203, RECONF2012-45, pp. 125-130, 2012年9月. |
資料番号 |
RECONF2012-45 |
発行日 |
2012-09-11 (RECONF) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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RECONF2012-45 |