講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-08-02 09:10
プロセスばらつきを考慮した低電圧動作混合連想度キャッシュ構造 ○鄭 晋旭・中田洋平・奥村俊介・川口 博・吉本雅彦(神戸大) SDM2012-63 ICD2012-31 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2012-63 ICD2012-31 |
抄録 |
(和) |
本論文では、キャッシュのインデックスごとに様々な連想度を取ることによってプロセスばらつきに対応する低電圧キャッシュ構造を提案する。提案キャッシュでは、プロセスばらつきの影響による故障ブロックがキャッシュ内でランダムに分布することに着目し、故障ブロックのみを7T/14T SRAMの回復機構を用いて回復させる。それにより、従来のウェイごと、あるいはキャッシュ全体における一様な回復手法と比べ、面積オーバヘッド、容量オーバヘッドを削減でき、より効率的に低電圧動作を得ることができる。65 nmプロセスで試作した実チップの測定結果、7.81%の容量オーバヘッド、5.22%の面積オーバヘッドのみで80 mVの動作電圧削減効果を確認した。 |
(英) |
In this paper, we propose the mixed associativity scheme using 7T/14T SRAM, which can reduce the minimum operating voltage of the entire cache efficiently. The proposed mixed associativity scheme allows associativities in each index to be various. It exploits the characteristics of manufacturing-induced defects in memory structures and the recovery feature of 7T/14T SRAM. The proposed scheme has no additional cycle penalty. According to our measurement results, the proposed scheme can reduce the minimum operating voltage by 80 mV. Area estimation results show that the area overhead of the proposed cache scheme is 5.22% in 64-KB cache 8-way set-associative cache. |
キーワード |
(和) |
キャッシュ / SRAM / 低電圧動作 / 混合連想度 / / / / |
(英) |
Cache / SRAM / Low-voltage operation / Mixed-associativity / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 170, ICD2012-31, pp. 1-6, 2012年8月. |
資料番号 |
ICD2012-31 |
発行日 |
2012-07-26 (SDM, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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