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講演抄録/キーワード
講演名 2012-07-20 13:15
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗変動のモデリング(24) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2012-17
抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.これらの機構を用いて接点劣化現象解析を実施する過程で接触抵抗の時系列変動データを処理することが必要となり,通常のデータ処理に加えて非線形データ処理を行うことを試みた.平滑化した時系列変動にはロジスティック・モデルが適合すること,平滑化を緩めることで周期的成分が付加されることが示された.この変動成分は,モデルに時間遅れを導入することで,フィッティングが可能であった.さらに,時間分解能を上げることで,位相面解析によりこの時系列変動データには準安定なリミットサイクル,および分岐現象が存在することを見出した.また,限界振幅近傍において位相面解析を行うことで,矩形波入力によるデータと正弦波入力によるデータには差異があることを示唆した. 
(英) Authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. Because it was necessary to deal with time-sequential data for analyzing the degradation phenomena of electrical contacts by the oscillating mechanisms, they tried to use non-linear data processing in addition to usually linear one. It is shown that smoothed time-sequential data is adapted to the logistic model and the data is adapted to a modified logistic model with a periodic element without smoothing very much. The data is fitted to the model by introducing a time-delay element to them. And it is shown that there are semi-stable limit cycles and bifurcation phenomenon in the time-sequential fluctuation using phase plane analysis by raw data themselves. It is suggested that there is some differences between data by rectangular input and those by sinusoidal one using phase plane analysis at neighboring lower limits of the amplitudes of the oscillation.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 時系列データ / リミットサイクル / 分岐 / 位相面解析  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / time-sequential data / limit cycle / bifurcation / phase plane analysis  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 144, EMD2012-17, pp. 7-12, 2012年7月.
資料番号 EMD2012-17 
発行日 2012-07-13 (EMCJ, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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研究会情報
研究会 EMCJ EMD  
開催期間 2012-07-20 - 2012-07-20 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 放電・実装, EMC, 一般 
テーマ(英) Discharge, EMC, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2012-07-EMCJ-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗変動のモデリング(24) 
タイトル(英) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using some Oscillating Mechanisms 
サブタイトル(英) Modeling about Fluctuation of Contact Resistance (24) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(5)(和/英) 時系列データ / time-sequential data  
キーワード(6)(和/英) リミットサイクル / limit cycle  
キーワード(7)(和/英) 分岐 / bifurcation  
キーワード(8)(和/英) 位相面解析 / phase plane analysis  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 益田 直樹 / Naoki Masuda /
第4著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 石黒 明 / Akira Ishiguro /
第5著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第7著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第8著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2012-07-20 13:15:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMCJ2012-42,IEICE-EMD2012-17 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.143(EMCJ), no.144(EMD) 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMCJ-2012-07-13,IEICE-EMD-2012-07-13 


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