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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-07-02 14:30 モンテカルロシミュレーションによるソフトエラー率の数量的評価手法 ○矢野 憲（福岡大/JST）・林田隆則（福岡大）・佐藤寿倫（福岡大/JST）  CAS2012-11 VLD2012-21 SIP2012-43 MSS2012-11 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では論理回路のSER(Soft Error Rate)の解析を正確に行う数量的評価手法を提案する。提案する手法は仮想的な粒子照射モデルとCMOSプロセスばらつきを考慮に入れたモンテカルロシミュレーションにより実施する。提案する手法を使用して、ソフトエラー耐性のない通常のラッチ、SRAMとソフトエラー耐性を持ったラッチ、SRAMを使用してSERの改善率について評価を行った。使用したソフトエラー耐性ラッチ、SRAMは単一のノードに対するソフトエラーについて十分な耐性があるが、複数ノードに同時期に発生するソフトエラーについては脆弱であり、その特性を提案するシミュレーション手法により正確に解析した。ソフトエラー耐性のある論理回路においては、Qcrit（致命的チャージ量）によるSERの推定が困難である。何故なら複数ノードに注入されたチャージ量の相互作用によりSEU(Single Event Upset)が発生するか否かが決まるためである。提案するシミュレーション手法を用いて、複数ノードに発生する電流注入をモデル化しSERを正確に解析する手法を提案した。 |
| （英） | In this paper a quantitative approach of SER(Soft Error Rate) of soft error rate estimation is proposed by Monte Carlo simulation by adopting a virtual particle irradiation model with in consideration of CMOS process variation. The proposed method is evaluated on normal Latch and SRAM and soft error tolerant Latch and SRAM. Although the soft error tolerant latch and SRAM introduced have sufficient tolerance about the soft error occurring at single node, they become vulnerable about the soft error which occurs in two or more different nodes during very short period of time. These characteristics are successfully evaluated by using proposed simulation method. | |
| キーワード | （和） | ソフトエラー / シングルイベントアップセット / モンテカルロシミュレーション / ソフトエラー耐性 / / / / |
| （英） | Soft Error / Single Event Upset / Monte-Carlo simulation / SER-Tolerant / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 114, VLD2012-21, pp. 61-66, 2012年7月. | |
| 資料番号 | VLD2012-21 | |
| 発行日 | 2012-06-25 (CAS, VLD, SIP, MSS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2012-11 VLD2012-21 SIP2012-43 MSS2012-11 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD CAS MSS SIP |
| 開催期間 | 2012-07-02 - 2012-07-03 |
| 開催地（和） | 京都リサーチパーク |
| 開催地（英） | Kyoto Research Park |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2012-07-VLD-CAS-MSS-SIP |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | モンテカルロシミュレーションによるソフトエラー率の数量的評価手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Quantitative Approach of Soft Error Rate Estimation by Monte-Carlo Simulation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / Soft Error |
| キーワード(2)（和/英） | シングルイベントアップセット / Single Event Upset |
| キーワード(3)（和/英） | モンテカルロシミュレーション / Monte-Carlo simulation |
| キーワード(4)（和/英） | ソフトエラー耐性 / SER-Tolerant |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 矢野 憲 / Ken Yano / |
| 第1著者 所属（和/英） | 福岡大学 (略称： 福岡大/JST) Fukuoka University (略称： Fukuokadai) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林田 隆則 / Takanori Hayashida / |
| 第2著者 所属（和/英） | 福岡大学 (略称： 福岡大) Fukuoka University (略称： Fukuokadai) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 寿倫 / Toshinori Sato / |
| 第3著者 所属（和/英） | 福岡大学 (略称： 福岡大/JST) Fukuoka University (略称： Fukuokadai) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-07-02 14:30:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | CAS2012-11, VLD2012-21, SIP2012-43, MSS2012-11 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.113(CAS), no.114(VLD), no.115(SIP), no.116(MSS) |
| ページ範囲 | pp.61-66 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-06-25 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
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