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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-06-22 13:00 故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価 ○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大）  DC2012-9 |
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| 抄録 | （和） | 従来，VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている．しかしながら，近年VLSIの大規模化，複雑化に伴いそれらを対象としたテストでは検出されない欠陥が増加している．本論文では，近年頻繁に発生する欠陥で検出条件が複雑な微小遅延故障モデルに対するテスト品質評価尺度として，故障活性化率を定義し，与えられた遷移故障テスト集合に対して故障活性化率が向上するようにドントケア割当てを行う手法を提案する．遷移故障モデルを対象としたテストパターンに対して，故障活性化率が向上するようドントケア割当てを行うことで，テストパターン数を増加させることなく高品質なテストパターン集合を生成することが可能である．ISCAS’89ベンチマーク回路に対して，初期テスト集合として与えられた遷移故障テスト集合と比較して，提案するドントケア割当て法によって生成されたテスト集合はSDQL値を0.2~7.0%改善できることを示す． |
| （英） | A single stuck-at fault model and a transition fault model have been widely used to generate test patterns for VLSIs. However, recently defects which are not detected by test sets for the classical fault models increase with the growing density and complexity of VLSIs. In this paper, fault sensitization coverage is defined as the simple measure of test quality for a small delay fault. Defects which frequently occur in VLSIs is modeled as a small delay fault and the detection conditions are complex. This paper proposes a don't care filling method to improve fault sensitization coverage for given initial transition fault test sets. This method is possible to generate high quality test sets for small delay without any impact on test data volume. Experimental results show that final test sets generated by the proposed don't care filling method improved SDQL by 0.2~7.0% compared with given initial transition fault sets. | |
| キーワード | （和） | 遷移故障 / テスト品質 / 故障活性化率 / 微小遅延故障 / SDQL / ドントケア割当て / / |
| （英） | transition fault / test quality / fault sensitization coverage / small delay faults / SDQL / don't care filling / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 102, DC2012-9, pp. 1-6, 2012年6月. | |
| 資料番号 | DC2012-9 | |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2012-9 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-06-22 - 2012-06-22 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Room B3-1 Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An evaluation of a don't care filling method to improve fault sensitization coverage |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移故障 / transition fault |
| キーワード(2)（和/英） | テスト品質 / test quality |
| キーワード(3)（和/英） | 故障活性化率 / fault sensitization coverage |
| キーワード(4)（和/英） | 微小遅延故障 / small delay faults |
| キーワード(5)（和/英） | SDQL / SDQL |
| キーワード(6)（和/英） | ドントケア割当て / don't care filling |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 若杉 諒介 / Ryosuke Wakasugi / ワカスギ リョウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学大学院 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyusyu University (略称： Kyusyu Univ) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-06-22 13:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2012-9 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.102 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-06-15 (DC) |
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