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講演抄録/キーワード
講演名 2012-06-22 17:25
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構の特性に関する基礎的検討(22) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2012-15 CPM2012-32 OME2012-39
抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本論文では,ハンマリング加振機構の基本性能の中で,被加振物に与える衝撃加速度および荷重について検討した.最も簡便な方法である鋼球落下を改良した円柱落下による方法と,ハンマリング加振機構を用いた方法とで,与える加速度および衝撃荷重を比較し,後者においてその測定値の分散が小さいことを示した.また,ハンマリング加振機構により回路基板上各点における加速度分布を測定した.また,加速度ピックアップの質量の差異を用いた換算質量の試算を行い,基板上の位置により相違していることを示し,基板上の位置および接触摩擦力との相関関係について示唆した. 
(英) Authors have studied the influence on contact resistance by actual micro-oscillation to electrical contacts using some oscillating mechanisms. In this paper, the authors discuss an impact acceleration and force transferred to an object, which are important and fundamental elements of the hammering oscillating mechanism. They compare the performance of an improved cyclic steel cylinder drop test and that of hammering oscillating mechanism (HOM). As a result of the comparison they obtain that there less distributions of the measurement values by HOM than those of values by the improved cyclic steel cylinder drop test. Moreover by the HOM they measured the acceleration distributions in the various points of printed circuit board. Because they estimated the converted masses of the objects by using the difference of the mass of acceleration pick-ups, they obtained that the masses were different from each other and they illustrated correlative relationship between contact frictional force and the location on the printed circuit board.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 接触摩擦力 / 加速度分布 / 換算質量 /  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / hammering oscillating mechanism / contact frictional force / acceleration distribution / converted mass /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 95, EMD2012-15, pp. 41-46, 2012年6月.
資料番号 EMD2012-15 
発行日 2012-06-15 (EMD, CPM, OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD CPM OME  
開催期間 2012-06-22 - 2012-06-22 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 材料デバイスサマーミーティング 
テーマ(英) Summer meeting for materials and devices 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2012-06-EMD-CPM-OME 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 加振機構の特性に関する基礎的検討(22) 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism 
サブタイトル(英) A fundamental study on the performance of the oscillating mechanism(22) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism  
キーワード(5)(和/英) 接触摩擦力 / contact frictional force  
キーワード(6)(和/英) 加速度分布 / acceleration distribution  
キーワード(7)(和/英) 換算質量 / converted mass  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 益田 直樹 / Naoki Masuda / マスダ ナオキ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 石黒 明 / Akira Ishiguro /
第5著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第7著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第8著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2012-06-22 17:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2012-15,IEICE-CPM2012-32,IEICE-OME2012-39 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.95(EMD), no.96(CPM), no.97(OME) 
ページ範囲 pp.41-46 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2012-06-15,IEICE-CPM-2012-06-15,IEICE-OME-2012-06-15 


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