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講演抄録/キーワード
講演名
2012-06-21 17:40
ダイヤモンド半導体/金属界面の電気特性制御 ~ p型・n型ダイヤモンドの現状と課題 ~
○
松本 翼
(
筑波大
)・
加藤宙光
・
小倉政彦
・
竹内大輔
・
牧野俊晴
・
大串秀世
・
山崎 聡
(
産総研
)
SDM2012-62
エレソ技報アーカイブへのリンク:
SDM2012-62
抄録
(和)
(まだ登録されていません)
(英)
(Not available yet)
キーワード
(和)
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(英)
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文献情報
信学技報, vol. 112, no. 92, SDM2012-62, pp. 103-108, 2012年6月.
資料番号
SDM2012-62
発行日
2012-06-14 (SDM)
ISSN
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
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SDM2012-62
エレソ技報アーカイブへのリンク:
SDM2012-62
研究会情報
研究会
SDM
開催期間
2012-06-21 - 2012-06-21
開催地(和)
名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー)
開催地(英)
VBL, Nagoya Univ.
テーマ(和)
ゲート絶縁薄膜、容量膜、機能膜およびメモリ技術(応用物理学会、シリコンテクノロジー分科会との合同開催)
テーマ(英)
Science and Technology for Dielectric Thin Films for Electron Devices
講演論文情報の詳細
申込み研究会
SDM
会議コード
2012-06-SDM
本文の言語
日本語
タイトル(和)
ダイヤモンド半導体/金属界面の電気特性制御
サブタイトル(和)
p型・n型ダイヤモンドの現状と課題
タイトル(英)
Control of junction property at the diamond/metal interface
サブタイトル(英)
The present results and problems of p-type and n-type diamond
キーワード(1)(和/英)
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キーワード(2)(和/英)
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キーワード(3)(和/英)
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キーワード(4)(和/英)
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キーワード(5)(和/英)
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キーワード(6)(和/英)
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キーワード(7)(和/英)
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キーワード(8)(和/英)
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
松本 翼
/
Tsubasa Matsumoto
/
マツモト ツバサ
第1著者 所属(和/英)
筑波大学
(略称:
筑波大
)
University of Tsukuba
(略称:
Tsukuba Univ.
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
加藤 宙光
/
Hiromitsu Kato
/
カトウ ヒロミツ
第2著者 所属(和/英)
(独)産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
national institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
小倉 政彦
/
Masahiko Ogura
/
オグラ マサヒコ
第3著者 所属(和/英)
(独)産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
national institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
竹内 大輔
/
Daisuke Takeuchi
/
タケウチ ダイスケ
第4著者 所属(和/英)
(独)産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
national institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
牧野 俊晴
/
Toshiharu Makino
/
マキノ トシハル
第5著者 所属(和/英)
(独)産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
national institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
大串 秀世
/
Hideyo Okushi
/
オオクシ ヒデヨ
第6著者 所属(和/英)
(独)産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
national institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
山崎 聡
/
Satoshi Yamasaki
/
ヤマサキ サトシ
第7著者 所属(和/英)
(独)産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
national institute of Advanced Industrial Science and Technology
(略称:
AIST
)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第8著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第9著者 所属(和/英)
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第10著者 所属(和/英)
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第11著者 所属(和/英)
(略称: )
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第12著者 所属(和/英)
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第13著者 所属(和/英)
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第14著者 所属(和/英)
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第15著者 所属(和/英)
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第16著者 所属(和/英)
(略称: )
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第17著者 所属(和/英)
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第18著者 所属(和/英)
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(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第19著者 所属(和/英)
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(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第20著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
講演者
第1著者
発表日時
2012-06-21 17:40:00
発表時間
20分
申込先研究会
SDM
資料番号
SDM2012-62
巻番号(vol)
vol.112
号番号(no)
no.92
ページ範囲
pp.103-108
ページ数
6
発行日
2012-06-14 (SDM)
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