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講演抄録/キーワード
講演名 2012-05-29 10:30
いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗変動のモデリング(2) ~
和田真一越田圭治久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
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抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.これらの機構を用いて接点劣化現象解析を実施する過程で接触抵抗の時系列変動データを処理することが必要となり,通常のデータ処理に加えて非線形データ処理を行うことを試みた.平滑化した時系列変動にはロジスティック・モデルが適合すること,平滑化を緩めることで周期的成分が付加されることが示された.この変動成分は,モデルに時間遅れを導入することで,フィッティングが可能であった.さらに,時間分解能を上げることで,この時系列変動データに準安定なリミットサイクル,および分岐現象が存在することを見出した.原因のひとつとして,外力による加振によって引き起こされる静摩擦力およびクーロン摩擦力が関連していると考えられるが,非線形要素については特定できなかった.今後,さらに解析を進めたいと考える. 
(英) Authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. Because it was necessary to deal with time-sequential data for analyzing the degradation phenomena of electrical contacts by the oscillating mechanisms, they tried to use non-linear data processing in addition to usually linear one. It is shown that smoothed time-sequential data is adapted to the logistic model and the data is adapted to a modified logistic model with a periodic element without smoothing very much. The data is fitted to the model by introducing a time-delay element to them. And it is shown that there are semi-stable limit cycles and bifurcation phenomenon in the time-sequential fluctuation using raw data themselves. It is suggested that there is non-linear phenomenon is caused by static friction and Coulomb’s one when external force vibrates the system. It is, however, not yet clear what element is major and what element is minor though it was clear that there are some non-linear elements.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 時系列データ / ロジスティック曲線 / リミットサイクル / 分岐  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / time-sequential data / logistic curve / limit cycle / bifurcation  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 69, NLP2012-35, pp. 49-54, 2012年5月.
資料番号 NLP2012-35 
発行日 2012-05-21 (NLP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 NLP  
開催期間 2012-05-28 - 2012-05-29 
開催地(和) 秋田市民交流プラザ 
開催地(英) Akita City Exchange Plaza 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 NLP 
会議コード 2012-05-NLP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗変動のモデリング(2) 
タイトル(英) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using some Oscillating Mechanisms 
サブタイトル(英) Modeling about Fluctuation of Contact Resistance (2) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(5)(和/英) 時系列データ / time-sequential data  
キーワード(6)(和/英) ロジスティック曲線 / logistic curve  
キーワード(7)(和/英) リミットサイクル / limit cycle  
キーワード(8)(和/英) 分岐 / bifurcation  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa /
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2012-05-29 10:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 NLP 
資料番号 IEICE-NLP2012-35 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.69 
ページ範囲 pp.49-54 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-NLP-2012-05-21 


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