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講演抄録/キーワード
講演名 2012-05-25 14:20
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル (21) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2012-3
抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本論文では,改良した微摺動機構を用いて,市販の電子回路基板上で用いられるコネクタに対して,オスコネクタとメスコネクタとの間に相対変位を起こさせる周期振動を与えたときの,接触電圧の時系列変動に関して検討した.実験条件は,機構への入力波形(矩形波・正弦波)・機構の摺動振幅(±7.8μmから±1.2μm)・オスピンおよびメスピン間摩擦力(1.6N/pin,1.0N/pinおよび0.3N/pin)とした.これより,電気接点の抵抗における変動を起こす摺動振幅には下限的臨界点が存在することが示唆された.また,この臨界値には入力波形・摺動振幅・ピン間摩擦力が相関していることが示唆されて.さらに,この接触電圧の時系列変動には非線形要素関連していることが示唆されるので,今後,入出力特性に関してさらに精密な検討が必要であることも示された. 
(英) Authors have studied the influence on contact resistance by actual micro-oscillation to electrical contacts using some oscillating mechanisms. In this paper, the authors discussed the time sequential contact voltage fluctuation between male connector and female one, which caused by periodical oscillation, input waveform into the mechanism, The experimental condition were input waveforms into the mechanism (rectangular and sinusoidal), sliding amplitudes (±7.8μm - ±1.2μm) and frictional forces between a male pin and a female pin (1.6N/pin,1.0N/pin and 0.3N/pin). It was shown that there were the lower limit of the sliding amplitude which caused the fluctuation of contact voltage. It was also indicated that the limit was correlated to the waveform, the sliding amplitude and the frictional force. And the authors will discuss strictly or precisely the characteristic of input-output in the mechanism or the system for the future because it is suggested that some non-linear elements are corresponding to the time sequential fluctuation of the contact voltage.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / ハンマリング加振機構 / 接触摩擦力 / 相対変位 / 入力波形  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / hammering oscillating mechanism / contact frictional force / relative displacement / input waveform  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 61, EMD2012-3, pp. 13-18, 2012年5月.
資料番号 EMD2012-3 
発行日 2012-05-18 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2012-05-25 - 2012-05-25 
開催地(和) 東北文化学園大 
開催地(英) Tohoku Bunka Gakuen Univ. 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2012-05-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗とそのモデル (21) 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism 
サブタイトル(英) Contact Resistance and its Model (21) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(5)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism  
キーワード(6)(和/英) 接触摩擦力 / contact frictional force  
キーワード(7)(和/英) 相対変位 / relative displacement  
キーワード(8)(和/英) 入力波形 / input waveform  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 益田 直樹 / Naoki Masuda / マスダ ナオキ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 石黒 明 / Akira Ishiguro / イシグロ アキラ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第7著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第8著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2012-05-25 14:20:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2012-3 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.61 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2012-05-18 


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