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| 講演名 | 2012-05-25 13:55 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 ～ 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 ～ ○吉田 清・澤 孝一郎（日本工大）・鈴木健司・代島英樹・高谷幸悦（富士電機機器制御）  EMD2012-2 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2012-2 |
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| 抄録 | （和） | これまで、電磁コンタクタを連続開閉させた場合のアーク継続時間、接触抵抗、および電極質量の変化量に与える電源電圧の影響について調べてきた。閉成時と開離時の両方にアークを発生させた場合と開離時のみにアークを発生させた場合は以前に報告した。今回は、閉成時のみにアークを発生させた実験結果について報告する。実験条件は同一で、電源電圧は100V～160Vの間で変化させ、負荷電流は5Aとして、開閉周期1秒で10万回までの連続開閉を行った。その結果、閉成時アークのみを発生させた場合、接触抵抗値は電源電圧の影響を受けずに一定で、開離時アークを発生させた場合より低くなった。閉成時アークの継続時間は非常に短いが、電極表面の観測から陽極側には凹みを生じ、陰極側には突起が発生することが確認できた。 |
| （英） | Experiments at several source voltages have been carried out to clarify the influence of the voltage on various characteristics, such as arc duration, contact resistance and electrode mass change. In previous experiments, arc was generated only at break and at both make and break. In this report, arc is generated only at make. When only make arc occurs, arc is generated by bounce of contacts. The source voltages are changed from DC100V to 160V, load current is set to 5A constant, and an electromagnetic contactor is operated continuously up to 100,000 times. As a result, the source voltage doesn't influence average contact resistance and arc duration was very short. In addition, the crater was caused on the contact surface of the anode side. On the other hand, the pip was formed in the cathode side. | |
| キーワード | （和） | 電磁コンタクタ / 電気接点 / アーク継続時間 / AgNi / 電極質量変化 / 接触抵抗 / アーク放電 / |
| （英） | electromagnetic contactor / electrical contact / arc duration / AgNi / electrode mass change / contact resistance / arc discharge / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 61, EMD2012-2, pp. 7-12, 2012年5月. | |
| 資料番号 | EMD2012-2 | |
| 発行日 | 2012-05-18 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2012-2 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2012-2 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2012-05-25 - 2012-05-25 |
| 開催地（和） | 東北文化学園大 |
| 開催地（英） | Tohoku Bunka Gakuen Univ. |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2012-05-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 |
| サブタイトル（和） | 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 |
| タイトル（英） | Influence of Source Voltage on Electrode Mass Change of AgNi Contacts for Electromagnetic Contactor |
| サブタイトル（英） | Various characteristics of contactor with only make arc |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁コンタクタ / electromagnetic contactor |
| キーワード(2)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(3)（和/英） | アーク継続時間 / arc duration |
| キーワード(4)（和/英） | AgNi / AgNi |
| キーワード(5)（和/英） | 電極質量変化 / electrode mass change |
| キーワード(6)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(7)（和/英） | アーク放電 / arc discharge |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉田 清 / Kiyoshi Yoshida / ヨシダ キヨシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鈴木 健司 / Kenji Suzuki / スズキ ケンジ |
| 第3著者 所属（和/英） | 富士電機機器制御 (略称： 富士電機機器制御) Fuji Electric FA Components & Systems (略称： Fuji Electric) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 代島 英樹 / Hideki Daijima / ダイジマ ヒデキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 富士電機機器制御 (略称： 富士電機機器制御) Fuji Electric FA Components & Systems (略称： Fuji Electric) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高谷 幸悦 / Koetsu Takaya / タカヤ コウエツ |
| 第5著者 所属（和/英） | 富士電機機器制御 (略称： 富士電機機器制御) Fuji Electric FA Components & Systems (略称： Fuji Electric) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-05-25 13:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2012-2 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.61 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-05-18 (EMD) |
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