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講演抄録/キーワード
講演名 2012-04-23 16:00
[招待講演]エラー予測LDPCとエラー回復機構により10倍の長寿命,エラーを76%削減したSSD
田中丸周平柳原裕貴竹内 健東大エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2012-5
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文献情報 信学技報, vol. 112, no. 15, ICD2012-5, pp. 23-28, 2012年4月.
資料番号 ICD2012-5 
発行日 2012-04-16 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2012-04-23 - 2012-04-24 
開催地(和) つなぎ温泉清温荘(岩手県) 
開催地(英) Seion-so, Tsunagi Hot Spring (Iwate) 
テーマ(和) メモリ(DRAM、SRAM、フラッシュ、新規メモリ)技術 
テーマ(英) Memory Device Technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2012-04-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) エラー予測LDPCとエラー回復機構により10倍の長寿命,エラーを76%削減したSSD 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Over-10x-Extended-Lifetime 76%-Reduced-Error Solid-State Drives (SSDs) with Error-Prediction LDPC Architecture and Error-Recovery Scheme 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中丸 周平 / Shuhei Tanakamaru / タナカマル シュウヘイ
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳原 裕貴 / Yuki Yanagihara / ヤナギハラ ユウキ
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン
第3著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
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講演者
発表日時 2012-04-23 16:00:00 
発表時間 50 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2012-5 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.15 
ページ範囲 pp.23-28 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-ICD-2012-04-16 


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