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講演抄録/キーワード
講演名 2012-04-23 15:10
[招待講演]SSDシステム信頼性 ~ 大容量記憶装置を半導体で実現する課題 ~
助川 博東芝エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2012-4
抄録 (和) SSDの記憶容量が増えていくと言うことはSSD装置の内部に搭載されるメモリチップ内の総回路数が巨大化することであり、故障可能性がある箇所の母数が増えていくことになる。むろんブロックデバイス(セクター単位で読み書きをする装置)であるので訂正動作は可能であるが、それで単純にはカバーできない範囲もある。更に不揮発記憶装置として要求される特性もあり、単純な上書きは不可能であるフラッシュメモリの特性と相俟って確実なアドレス管理が要求される。 
(英) The increase of SSD storage capacity accompanies the total amount of circuit number increase of the memory chips embedded inside of SSD. Because it is block device (sector unit Read/Write device), some level of error can be recovered, but some level of error cannot be simply recovered. And also SSD is a nonvolatile device, it reads out what has been recorded in past. The flash memory device is not able to be overwritten, so the secured address management implementation is required.
キーワード (和) SSD / フラッシュメモリ / 記憶容量 / アドレス管理 / / / /  
(英) SSD / Flash Memory / Storage Capacity / Address Management / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 15, ICD2012-4, pp. 19-21, 2012年4月.
資料番号 ICD2012-4 
発行日 2012-04-16 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2012-04-23 - 2012-04-24 
開催地(和) つなぎ温泉清温荘(岩手県) 
開催地(英) Seion-so, Tsunagi Hot Spring (Iwate) 
テーマ(和) メモリ(DRAM、SRAM、フラッシュ、新規メモリ)技術 
テーマ(英) Memory Device Technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2012-04-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SSDシステム信頼性 
サブタイトル(和) 大容量記憶装置を半導体で実現する課題 
タイトル(英) Dependable SSD design 
サブタイトル(英) The Issue for Enabling High Capacity Storage Device with Semiconductor 
キーワード(1)(和/英) SSD / SSD  
キーワード(2)(和/英) フラッシュメモリ / Flash Memory  
キーワード(3)(和/英) 記憶容量 / Storage Capacity  
キーワード(4)(和/英) アドレス管理 / Address Management  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 助川 博 / Hiroshi Sukegawa / スケガワ ヒロシ
第1著者 所属(和/英) (株)東芝 (略称: 東芝)
TOSHIBA Corp. (略称: TOSHIBA)
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講演者
発表日時 2012-04-23 15:10:00 
発表時間 50 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2012-4 
巻番号(vol) IEICE-112 
号番号(no) no.15 
ページ範囲 pp.19-21 
ページ数 IEICE-3 
発行日 IEICE-ICD-2012-04-16 


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