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講演抄録/キーワード
講演名 2012-03-16 14:45
SIFT特徴点を用いた幾何学的攻撃に耐性のある静止画像向け電子透かしの研究
魏 娜山口和彦電通大EMM2011-71
抄録 (和) 静止画像向け電子透かしは,攻撃により埋め込みと抽出をする際に透かし情報の埋め込み位置に関する同期が失われ,正しく透かし情報の検出が問題となっている.本論文では静止画像を対象とし,SIFT(Scale Invariant Feature Transform)特徴点情報を用いて円形領域に透かし情報を埋め込み,幾何学的攻撃に耐性のある電子透かし手法を提案した.本手法では,SIFT手法を用いて抽出された特徴点に対して,透かし情報を埋め込むのに適している特徴点のみを選択し,埋め込み領域を確定した.また,透かし情報を埋め込む手法としてQIM(Quantization Index Modulation)を用いて,DCT(Discrete Cosine Transform)領域に透かし情報の埋め込みを行った.その結果,画質を劣化させることなく,従来手法より多くの透かし情報を埋め込むことができた.また,様々な攻撃に対する耐性を向上させることを実現した. 
(英) In image watermarking issue,geometric attacks are known as important and difficult problem to resist,which can desynchronize the location of the watermark and hence causes incorrect watermark detection.In this paper, we propose a new content based image watermarking based on SIFT(Scale Invariant Feature Transform) detector.The proposed scheme has strong tolerance toward geometric attacks.The embedding of the scheme is as follows.Firstly, we choose the feature points which are stable for embed watermark from the original host image by using SIFT detector,and decide the circular regions for the points.Secondly the watermark is embedded into DCT(Discrete Cosine Transform)regions within the circle using the QIM(Quantization Index Modulation)method.Experimental results show that the proposed image watermarking is not only invisible and robust against geometric attacks, but also can embed more watermark information than the previously known method.
キーワード (和) 電子透かし / 幾何学的攻撃 / SIFT特徴点 / QIM / 静止画像 / / /  
(英) Watermark / Geometric attack / SIFT feature points / QIM / Image / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 496, EMM2011-71, pp. 43-48, 2012年3月.
資料番号 EMM2011-71 
発行日 2012-03-09 (EMM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMM2011-71

研究会情報
研究会 EMM  
開催期間 2012-03-16 - 2012-03-16 
開催地(和) 大阪大学吹田キャンパス 
開催地(英)  
テーマ(和) 画質・音質評価、知覚・認知メトリクス、人間視聴覚システム、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMM 
会議コード 2012-03-EMM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SIFT特徴点を用いた幾何学的攻撃に耐性のある静止画像向け電子透かしの研究 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Image watermarking resistant to geometric attacks based on SIFT feature 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電子透かし / Watermark  
キーワード(2)(和/英) 幾何学的攻撃 / Geometric attack  
キーワード(3)(和/英) SIFT特徴点 / SIFT feature points  
キーワード(4)(和/英) QIM / QIM  
キーワード(5)(和/英) 静止画像 / Image  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 魏 娜 / Wei Na / ギ ナ
第1著者 所属(和/英) 電気通信大学 (略称: 電通大)
The University of Electro-Communications (略称: UEC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 和彦 / Kazuhiko Yamaguchi /
第2著者 所属(和/英) 電気通信大学 (略称: 電通大)
The University of Electro-Communications (略称: UEC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-03-16 14:45:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 EMM 
資料番号 EMM2011-71 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.496 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数
発行日 2012-03-09 (EMM) 


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