| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-03-16 11:45 近傍－遠方界の境界領域における電界強度推定法の評価 ○中山 勝（東京電機大/イーエムシー鹿島）・小林岳彦（東京電機大）  EMCJ2011-136 |
|
| 抄録 | （和） | 送信電力とアンテナ利得から遠方界における電界強度を算出する簡易式は，電磁界アプリケーションに広く使用されている．この式はまた，ISO/TR 10305-1, ISO/TR 10305-2およびIEEE Std. 1309などで規定されている電界プローブの校正にも適用されている．この式は，遠方界領域においてのみ有効である．界が遠方界となる波源からの距離はλ/2π(λは波長)の式で与えられることはよく知られている．しかしながらこの距離は，静電界，誘導界および放射界の大きさが等しくなる距離に過ぎない．例えば，ISO 11452-2で規定している最低試験周波数は80 MHz (λ= 3.75 m)であり，試験距離は1 mであるが，これは λ/2πをわずかに越えている．従来の式で得られる確度は，この付近の距離では低下する．本報告では，空間インピーダンスの変化の影響を考慮した電界強度を計算するための新しい式を提案する．従来の式および提案した式から得られる数値的な結果を電波暗室で測定した実験データと比較した．提案した式による推定確度の向上が確認された． |
| （英） | An equation for calculating electric field strength has been widely used for electromagnetic applications. This equation has also been applied to the calibration of electric field probes, which has been specified in various standards, such as ISO/TR 10305-1, ISO/TR 10305-2 and IEEE Std. 1309. It is, however, valid only in the far field region. It is well known that the far field distance is given by $\lambda$/2$\pi$, where $\lambda$ is the wavelength. This formula, however, gives a distance where the magnitudes of three terms –electrostatic, induction, and radiation fields– are equal. The lowest test frequency specified in ISO 11452-2 is 80 MHz ($\lambda$ = 3.75 m) and the test distance is 1 m, which slightly exceeds $\lambda$/2$\pi$. The accuracy attained by the conventional equation deteriorates at this marginal distance. In this report, a new equation for calculating the electric field strength is proposed, embracing the effects of variations in space impedance. Numerical results yielded by the conventional and proposed equations were compared with the experimental data measured in a radio anechoic chamber. Substantial improvement in accuracy was achieved with the proposed equation. | |
| キーワード | （和） | 電界強度 / 近傍界 / 遠方界 / 放射イミュニティ試験 / 電界プローブ / 校正 / / |
| （英） | electric field strength / near field / far field / radiated immunity test / electric field probe / calibration / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 492, EMCJ2011-136, pp. 37-42, 2012年3月. | |
| 資料番号 | EMCJ2011-136 | |
| 発行日 | 2012-03-09 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2011-136 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ ITE-BCT |
| 開催期間 | 2012-03-16 - 2012-03-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 放送, EMC, 一般 |
| テーマ（英） | Broadcast, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2012-03-EMCJ-BCT |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 近傍－遠方界の境界領域における電界強度推定法の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Electric Field Strength Computation in Boundary Region between Near and Far Fields |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電界強度 / electric field strength |
| キーワード(2)（和/英） | 近傍界 / near field |
| キーワード(3)（和/英） | 遠方界 / far field |
| キーワード(4)（和/英） | 放射イミュニティ試験 / radiated immunity test |
| キーワード(5)（和/英） | 電界プローブ / electric field probe |
| キーワード(6)（和/英） | 校正 / calibration |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中山 勝 / Masaru Nakayama / ナカヤマ マサル |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京電機大学/(株)イーエムシー鹿島 (略称： 東京電機大/イーエムシー鹿島) Toyko Denki University/EMC Kashima Corporation (略称： Tokyo Denki Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 岳彦 / Takehiko Kobayashi / コバヤシ タケヒコ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京電機大学 (略称： 東京電機大) Tokyo Denki University (略称： Tokyo Denki Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第3著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-03-16 11:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2011-136 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.492 |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-03-09 (EMCJ) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]