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講演抄録/キーワード
講演名 2012-03-08 15:10
ARモデルに基づくFID信号の周波数と減衰率の推定における高い減衰率が推定精度に与える影響
田谷 悠古川利博東京理科大)・久保田 一千葉工大
技報オンラインサービス実施中
抄録 (和) 現在、核磁気共鳴分光法(NMR:Nuclear Magnetic Resonance)における自由誘導減衰(FID:Free Induction Decay)信号の周波数と減衰率を推定する手法としてAR(Autore Rressive)モデルを用いた手法が研究されている.
FID信号は複素減衰正弦波の足し合わせによって表わされる信号であり、これらの手法で,推定を行うと減衰率の高い波から推定精度が劣化する問題が起こる。この問題は,減衰率の高い波はエネルギーが低いため,減衰率の低い波に比べて相対的にSNRが低くなるからだと考えられる.
そこで,本研究では,適当に設定したSNRに対し,減衰率の高い波が推定精度に与える影響を定量的に考察する。 
(英) Recently, Method of using AR model for estimation frequency and decay of FID signal in NMR is researched.
FID signal is a signal linear combination of complex damped sine wave.
When noise is added to time series estimation accuracy uesing ARmodel decreases of high decay wave.
This problem is considered to SNR of high decay wave is high compared to
low decay wave.
We set appropriately for the SNR consider to quantify the effect of high decay wave is given to the estimation accuracy.
キーワード (和) NMR / FID信号 / 線形予測法 / ARモデル / 高い減衰率 / / /  
(英) NMR / FID / LPC / AR model / high decay wave / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 466, SIP2011-137, pp. 61-64, 2012年3月.
資料番号 SIP2011-137 
発行日 2012-03-01 (CAS, SIP, CS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 CAS CS SIP  
開催期間 2012-03-08 - 2012-03-09 
開催地(和) 新潟大学駅南キャンパス「ときめいと」 
開催地(英) The University of Niigata 
テーマ(和) ネットワークプロセッサ,通信のための信号処理,無線LAN/PAN,一般 
テーマ(英) Network Processor, Signal Processing for communication, and Wireless LAN/PAN, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SIP 
会議コード 2012-03-CAS-CS-SIP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ARモデルに基づくFID信号の周波数と減衰率の推定における高い減衰率が推定精度に与える影響 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Effect of high decay estimation accuracy in estimation of frequency and decay of FID based on AR model 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) NMR / NMR  
キーワード(2)(和/英) FID信号 / FID  
キーワード(3)(和/英) 線形予測法 / LPC  
キーワード(4)(和/英) ARモデル / AR model  
キーワード(5)(和/英) 高い減衰率 / high decay wave  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田谷 悠 / Yu Taya / タヤ ユウ
第1著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyou University Of Science (略称: TUS)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 古川 利博 / Toshihiro Furukawa / フルカワ トシヒロ
第2著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyou University Of Science (略称: TUS)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 一 / Hajime Kubota /
第3著者 所属(和/英) 千葉工業大学 (略称: 千葉工大)
Chiba Institute of Technology (略称: CIT)
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講演者
発表日時 2012-03-08 15:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 SIP 
資料番号 IEICE-CAS2011-117,IEICE-SIP2011-137,IEICE-CS2011-109 
巻番号(vol) IEICE-111 
号番号(no) no.465(CAS), no.466(SIP), no.467(CS) 
ページ範囲 pp.61-64 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-CAS-2012-03-01,IEICE-SIP-2012-03-01,IEICE-CS-2012-03-01 


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