講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-03-02 10:55
パルス光ブリルアン利得解析によるスプリッタ下部測定技術 ○高橋 央・ファン シンユウ・古敷谷優介・伊藤文彦(NTT) OFT2011-76 OPE2011-202 エレソ技報アーカイブへのリンク:OPE2011-202 |
抄録 |
(和) |
光アクセスネットワークの主形態のPONにおいて、故障位置探索のために所外スプリッタからお客様宅までのOTDR試験をする場合、スプリッタ下部の各分岐ファイバからの後方散乱光が重なってしまうため、個別に損失分布測定するのは困難である。そこで、我々は既存の光アクセス網を変更せずにスプリッタ上部からスプリッタ下部個別の損失分布を測定可能な方法として、スプリッタ下部ファイバ長差とブリルアン利得解析法を利用した試験技術を提案している。本稿では、スプリッタ下部個別損失分布測定実験により、4分岐スプリッタ下部を空間分解能10 mで測定したので報告する。 |
(英) |
A fault location technique for PONs is essential for improving the service reliability of optical fiber networks. OTDR is a technique that is widely used in conventional testing systems. However, it is unsuitable for PONs because it cannot distinguish Rayleigh back-scattered light from different tributaries we have proposed a PON fault location technique that uses Brillouin gain analysis, which can locate individual fault points in branched optical fibers without the need to add optical components to the PON system. In this paper, the proposed method is tested for 4-branched PON. The spatial resolution is improved up to 10 m. |
キーワード |
(和) |
ブリルアン利得解析 / ファイバ長差 / PON / 損失分布 / 保守 / / / |
(英) |
Brillouin gain analysis / Differential fiber length / PON / Loss Distribution Measurement / Maintenance / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 448, OFT2011-76, pp. 19-22, 2012年3月. |
資料番号 |
OFT2011-76 |
発行日 |
2012-02-24 (OFT, OPE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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