講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-02-13 16:20
フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平(九工大/JST)・三浦幸也(首都大東京/JST) DC2011-86 |
抄録 |
(和) |
VLSIの高機能化や高性能化,製造プロセスの微細化に伴い,劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し,障害発生による突然のシステムダウンを回避することが重要になっている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,フィールドテストでの遅延測定では,VLSIの温度や電圧等の環境要因による遅延への影響を考慮する必要がある.本論文では,フィールドテスト時に温度・電圧を測定,環境要因の影響を排除した高精度な遅延測定を実現するため,リングオシレータを核とする温度・電圧推定回路の試作と,試作した温度・電圧推定回路から得られる温度・電圧変化特性の測定および評価に関する関して述べる. |
(英) |
High dependability is required for an embedded system VLSI. High functionality and high performance of VLSI, due to the miniaturization of the manufacturing process, increase a performance deterioration caused by various aging mechanisms of VLSI circuits. Therefore, it is important to avoid a system down due to a sudden failure of VLSI due to an aging. The increase of a circuit delay is known as a typical aging phenomenon of a VLSI. However, the delay measurement for detecting aging on field needs to take account of the influence of thermal and voltage fluctuations. In this paper, for achieving highly accurate delay measurements that eliminate the effects of environmental factors, we show the test-chip design and evaluations of the thermal and voltage monitors, which consist of dedicated Ring-Oscillators, and discuss the estimation accuracy of temperature and voltage. |
キーワード |
(和) |
劣化 / フィールドテスト / 温度・電圧モニタ / リングオシレータ / / / / |
(英) |
Aging / Field test / thermal and Voltage monitor / Ring Oscillator / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 435, DC2011-86, pp. 61-66, 2012年2月. |
資料番号 |
DC2011-86 |
発行日 |
2012-02-06 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2011-86 |