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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-01-20 13:35 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗とそのモデル (20) ～ ○和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダー ノロブリン・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大）  EMD2011-112 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2011-112 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた．本論文では，改良した微摺動機構を用いて，機構への入力波形・ピン間摩擦力・機構の摺動振幅の間の相関について検討した．電気接点の抵抗における変動を起こした摺動振幅には下限的臨界点が存在することが示唆された．この摺動振幅データには阻害要因が存在するので，今後，振幅に関するさらに精密な検討が必要であることも示された． |
| （英） | Authors have studied the influence on contact resistance by actual micro-oscillation to electrical contacts using some oscillating mechanisms in the vertical direction. In this paper, the authors discussed the correlation between input waveform into the mechanism, contact frictional force between male-pins and female-pins and sliding amplitude caused by the mechanism, using a reinforced micro-sliding mechanism. It was shown that there were lower critical points in the sliding amplitudes caused time sequential fluctuation of electrical contacts. It was, however, indicated that it was necessary to discuss more precisely about the amplitudes because some inhibitors were in the measured data. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / ハンマリング加振機構 / 接触摩擦力 / 相対変位 / 入力波形 |
| （英） | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / hammering oscillating mechanism / contact frictional force / relative displacement / input waveform | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 391, EMD2011-112, pp. 1-6, 2012年1月. | |
| 資料番号 | EMD2011-112 | |
| 発行日 | 2012-01-13 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2011-112 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2011-112 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2012-01-20 - 2012-01-20 |
| 開催地（和） | レンタルホール湘南平塚 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2012-01-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗とそのモデル (20) |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism |
| サブタイトル（英） | Contact Resistance and its model (20) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 微摺動機構 / micro-sliding mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(6)（和/英） | 接触摩擦力 / contact frictional force |
| キーワード(7)（和/英） | 相対変位 / relative displacement |
| キーワード(8)（和/英） | 入力波形 / input waveform |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川述 真裕 / Masahiro Kawanobe / カワノベ マサヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 益田 直樹 / Naoki Masuda / マスダ ナオキ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石黒 明 / Akira Ishiguro / イシグロ アキラ |
| 第6著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ |
| 第7著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第8著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第9著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-01-20 13:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2011-112 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.391 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-01-13 (EMD) |
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