お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2011-12-16 13:10
[奨励講演]光励起によるGaAs1-xBix/GaAs薄膜のファブリ・ペローレーザ発振 ~ その発振波長の低温度依存性 ~
富永依里子尾江邦重吉本昌広京都工繊大LQE2011-127 エレソ技報アーカイブへのリンク:LQE2011-127
抄録 (和) 光励起によるGaAs0.975Bi0.025/GaAsファブリ・ペロー共振器付き薄膜からのレーザ発振を実現した。GaAs0.975Bi0.025活性層は分子線エピタキシー法で350 ℃の低温で成長した。160 Kから240 Kの範囲では、このレーザの特性温度は83 Kであり、この温度範囲の発振ピークエネルギーの温度係数は-0.18 meV/Kであった。これはGaAsの禁制帯幅の温度係数の40%である。240 K以上では、このレーザのしきい値励起光強度密度は急に増加し、発振ピークエネルギーは高エネルギー側にシフトした。これらの現象は、大きな価電子帯オフセットとほぼ平坦な導電帯オフセットを有していると予想されるGaAs0.975Bi0.025/GaAsヘテロ界面におけるキャリアの振舞いによるものと考えられる。 
(英) Lasing oscillation from a GaAs1-xBix/GaAs thin film with a Fabry-Perot cavity is achieved by photo-pumping. The GaAs0.975Bi0.025 active layer was grown at as low as 350 oC by molecular beam epitaxy. The characteristic temperature of the laser was 83 K between 160 and 240 K. In this temperature range, temperature coefficient of the lasing emission peak energy was -0.18 meV/K, which is 40% of the value for the band gap of GaAs. Above 240 K, the lasing threshold pumping power increased sharply, and the lasing emission peak energy started shifting to a higher energy.
キーワード (和) ビスマス系III-V族半導体半金属混晶 / 分子線エピタキシー / ファブリ・ペローレーザ / / / / /  
(英) Bismide III-V semiconductor-semimetal alloy / Molecular beam epitaxy / Fabry-Perot laser / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 359, LQE2011-127, pp. 21-24, 2011年12月.
資料番号 LQE2011-127 
発行日 2011-12-09 (LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード LQE2011-127 エレソ技報アーカイブへのリンク:LQE2011-127

研究会情報
研究会 LQE  
開催期間 2011-12-16 - 2011-12-16 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 半導体レーザ関連技術,及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 LQE 
会議コード 2011-12-LQE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光励起によるGaAs1-xBix/GaAs薄膜のファブリ・ペローレーザ発振 
サブタイトル(和) その発振波長の低温度依存性 
タイトル(英) Lasing in GaAs1-xBix/GaAs thin film cavity by photo-pumping and its low-temperature-dependent oscillation wavelength 
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英) ビスマス系III-V族半導体半金属混晶 / Bismide III-V semiconductor-semimetal alloy  
キーワード(2)(和/英) 分子線エピタキシー / Molecular beam epitaxy  
キーワード(3)(和/英) ファブリ・ペローレーザ / Fabry-Perot laser  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 富永 依里子 / Yoriko Tominaga / トミナガ ヨリコ
第1著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 尾江 邦重 / Kunishige Oe / オエ クニシゲ
第2著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉本 昌広 / Masahiro Yoshimoto / ヨシモト マサヒロ
第3著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2011-12-16 13:10:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 LQE 
資料番号 LQE2011-127 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.359 
ページ範囲 pp.21-24 
ページ数
発行日 2011-12-09 (LQE) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会