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講演抄録/キーワード
講演名 2011-12-15 16:10
[ポスター講演]スリープ深度制御による動作時リーク電力削減
武田清大三輪 忍中村 宏東大ICD2011-114 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2011-114
抄録 (和) 製造プロセスの微細化にともないリーク電力は増加しており,VLSI回路設計においてリーク電力の削減は必須である.スタンバイ時にリーク電力を削減する技術として基板バイアス制御やパワーゲーティング回路があるが,これらはスリープ制御にともなうオーバヘッドエネルギーやレイテンシが大きく,短いアイドル期間が頻出する動作時において十分に電力を削減することができなかった.近年,中間的なスリープ状態を利用してオーバヘッドを抑えることで,短いアイドル期間でも積極的にスリープする回路方式が提案されている.スリープの深さを浅くすることでオーバヘッドは抑制されるが,一方,スリープによるリーク削減効果も低下する.このため,スリープの深さの決定はリーク削減効果に大きな影響を与える.我々は,深さを動的に変更可能なスリープモードを複数もつ回路を提案する.提案回路では,実行時にアプリケーションや周囲温度に合わせて適応的に深さを制御することでリーク電力の削減効率を高めることが可能である.また我々は,実行時に空き時間の長さを判断して,深さの異なるモードを適用する制御手法を併せて提案する. 
(英) Since process technology has been in deep sub-micron era, leakage power dissipation is one of major concerns, and its reduction is an essential issue in VSLI design. Body Biasing and Power Gating are well known techniques to save leakage power in standby-time. However, in run-time, its large overhead energy consumption and large latency for sleep control prevent a circuit from saving leakage power in short idle times. Recently, to achieve leakage saving in short idle times, advanced PG and BB using shallow depth sleep which provides smaller overheads than the conventional deep sleep are studied. A shallower sleep provides smaller overheads. Meanwhile, a shallow sleep has less leakage saving efficiency than a deeper sleep. Thus, the decision of sleep depth is highly-influential issue for total leakage power saving. We propose the circuit having multiple sleep modes which are capable of reconfiguring those depths. Proposed circuit achieves good leakage saving by adopting those depths with run-time factors, i.e. running application and temperature. In addition, we propose the sleep mode controlling method for our circuit. This method assigns optimal sleep mode for idle times in run-time by assessing those lengths.
キーワード (和) Body Biasing / Power Gating / Multi-mode Sleep / Leakage Power / / / /  
(英) Body Biasing / Power Gating / Multi-mode Sleep / Leakage Power / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 352, ICD2011-114, pp. 69-69, 2011年12月.
資料番号 ICD2011-114 
発行日 2011-12-08 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2011-114 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2011-114

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2011-12-15 - 2011-12-16 
開催地(和) 大阪大学会館 
開催地(英)  
テーマ(和) 学生・若手技術者育成のための研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2011-12-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) スリープ深度制御による動作時リーク電力削減 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Sleep Depth Controlling for Run-Time Leakage Power Saving 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Body Biasing / Body Biasing  
キーワード(2)(和/英) Power Gating / Power Gating  
キーワード(3)(和/英) Multi-mode Sleep / Multi-mode Sleep  
キーワード(4)(和/英) Leakage Power / Leakage Power  
キーワード(5)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 武田 清大 / Seidai Takeda / タケダ セイダイ
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Tokyo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 三輪 忍 / Shinobu Miwa / ミワ シノブ
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Tokyo Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 宏 / Hiroshi Nakamura / ナカムラ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Tokyo Univ.)
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講演者
発表日時 2011-12-15 16:10:00 
発表時間 110 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2011-114 
巻番号(vol) IEICE-111 
号番号(no) no.352 
ページ範囲 p.69 
ページ数 IEICE-1 
発行日 IEICE-ICD-2011-12-08 


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