研究会情報 |
研究会 |
ICD |
開催期間 |
2011-12-15 - 2011-12-16 |
開催地(和) |
大阪大学会館 |
開催地(英) |
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テーマ(和) |
学生・若手技術者育成のための研究会 |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ICD |
会議コード |
2011-12-ICD |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
低電圧動作CMOSディジタル回路のためのゲート幅実効調整方式素子特性ばらつき補償技術の検討 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Process variation compensation with effective gate-width tuning for low-voltage CMOS digital circuits |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
岸和田 泰 / Yasushi Kishiwada / キシワダ ヤスシ |
第1著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
上田 瞬 / Shun Ueda / ウエダ シュン |
第2著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
宮脇 祐介 / Yusuke Miyawaki / ミヤワキ ユウスケ |
第3著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
松岡 俊匡 / Toshimasa Matsuoka / マツオカ トシマサ |
第4著者 所属(和/英) |
大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 所属(和/英) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 所属(和/英) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 所属(和/英) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 所属(和/英) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 所属(和/英) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2011-12-15 16:10:00 |
発表時間 |
110分 |
申込先研究会 |
ICD |
資料番号 |
ICD2011-109 |
巻番号(vol) |
vol.111 |
号番号(no) |
no.352 |
ページ範囲 |
pp.53-55 |
ページ数 |
3 |
発行日 |
2011-12-08 (ICD) |