講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-12-14 14:05
薄層AlGaN障壁層を有するAlGaN/GaNヘテロ構造電界効果トランジスタの小信号および30 GHzパワー特性 ~ AlGaN障壁層薄層化の影響 ~ ○東脇正高(NICT/JST)・Yi Pei・Rongming Chu・Umesh K. Mishra(カリフォルニア大サンタ・バーバラ校) ED2011-102 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2011-102 |
抄録 |
(和) |
ミリ波応用を念頭においた、非常に薄いAlGaN障壁層を有する短ゲートAlGaN/GaNヘテロ構造トランジスタ(HFET)を作製し、そのデバイス特性を評価した。作製したデバイスは非常に高いDCおよびRF小信号特性を示したにも関わらず、30 GHzにおけるパワー特性はあまり良いものでは無かった。また、パルス{$I$}--{$V$}測定に見られるカレントコラプスの振る舞いは一般的なものとは異なるものであった。これらの結果から、今回観察された非常に薄いAlGaN障壁層を有するGaN HFETの場合に起こる特徴的なデバイス特性の周波数分散は、二次元電子ガスチャネルにおいて高電界中で加速されることにより生成される、ホットエレクトロンによる界面準位へのチャージングが原因であると考えられる。 |
(英) |
Short-gate AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors (HFETs) with extremely thin AlGaN barrier layers were fabricated and characterized from the viewpoint of millimeter-wave applications. The devices showed good DC and RF small-signal characteristics; however, the 30 GHz power characteristics were degraded. The dispersive behavior of the thin-barrier devices measured in pulse {$I$}--{$V$} curves was different from the commonly observed one. We consider from these results that the unique dispersion of the thin-barrier HFETs was caused by the different charging path related to hot electrons accelerated in a high electric field region of a two-dimensional electron gas channel. |
キーワード |
(和) |
GaN / ヘテロ構造トランジスタ (HFET) / ミリ波 / 周波数分散 / / / / |
(英) |
GaN / heterostructure field-effect transistor (HFET) / millimeter-wave / frequency dispersion / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 338, ED2011-102, pp. 13-17, 2011年12月. |
資料番号 |
ED2011-102 |
発行日 |
2011-12-07 (ED) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
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