講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-11-29 09:50
BASTにおけるテストデータ量を削減するためのスキャンチェインの接続法 ○陳 贇・細川利典(日大)・吉村正義(九大) VLD2011-73 DC2011-49 |
抄録 |
(和) |
LSIのテスト品質を維持しながら,テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして,組込み自己テストと自動テスト生成を組み合わせたテスト手法であるBAST法が提案されている.BASTアーキテクチャにおいて,疑似ランダムパターン発生器で生成された疑似ランダムパターンを決定的パターンに変換するためにビット反転を用いている.テストデータ量やテスト実行時間を削減するためには,ビット反転数を削減する必要がある.本論文では,疑似ランダムパターンのビット反転数を削減するために,各FF間の接続を決定するスキャンチェインの接続法を提案する.ランダムパターンレジスタンス故障集合に対するドントケア抽出とマッチングの後処理としてスキャンチェイン接続法を用いた場合の反転ビット数の削減率をITC’99ベンチマーク回路に対して評価する. |
(英) |
BAST is one of techniques which are combined ATPG and BIST to reduce the amount of test data while maintaining the high test quality. On BAST architecture, a bit-flipping technique is used to convert pseudo-random patterns to deterministic patterns. In order to reduce test data volume and test application time, it is necessary to reduce the number of bit-flippings. In this paper, we propose a scan chain construction method which determines connection forms between scan FFs to reduce the number of bit-flippings in pseudo-random patterns. A scan chain construction method is used as the post-processing of a don’t care identification for a random-pattern-resistant fault set and a matching. The reduction ratios of bit-flipping are evaluated for ITC’99 benchmark circuits. |
キーワード |
(和) |
BASTアーキテクチャ / ドントケア抽出 / 反転数削減 / スキャンチェイン構成 / / / / |
(英) |
BAST architecture / don’t care Identification / bit-flipping reduction / scan chain construction / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 325, DC2011-49, pp. 127-132, 2011年11月. |
資料番号 |
DC2011-49 |
発行日 |
2011-11-21 (VLD, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
VLD2011-73 DC2011-49 |
研究会情報 |
研究会 |
VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
開催期間 |
2011-11-28 - 2011-11-30 |
開催地(和) |
ニューウェルシティ宮崎 |
開催地(英) |
NewWelCity Miyazaki |
テーマ(和) |
デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― |
テーマ(英) |
Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
DC |
会議コード |
2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
BASTにおけるテストデータ量を削減するためのスキャンチェインの接続法 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
A Scan Chain Construction Method to Reduce Test Data Volume on BAST |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
BASTアーキテクチャ / BAST architecture |
キーワード(2)(和/英) |
ドントケア抽出 / don’t care Identification |
キーワード(3)(和/英) |
反転数削減 / bit-flipping reduction |
キーワード(4)(和/英) |
スキャンチェイン構成 / scan chain construction |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
陳 贇 / Yun Chen / チン イン |
第1著者 所属(和/英) |
日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
第2著者 所属(和/英) |
日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
第3著者 所属(和/英) |
九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2011-11-29 09:50:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
DC |
資料番号 |
VLD2011-73, DC2011-49 |
巻番号(vol) |
vol.111 |
号番号(no) |
no.324(VLD), no.325(DC) |
ページ範囲 |
pp.127-132 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2011-11-21 (VLD, DC) |