| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-11-18 13:00 2つのテストチームによる2段階ソフトウェアテストに関する考察 ○木村光宏（法政大）・藤原隆次（SRATECH Lab.）  R2011-33 |
|
| 抄録 | （和） | 本研究では，通常ではあまり行われない形式のソフトウェアテストを実際に行った経験から，当該ソフトウェアの信頼性，ここではテスト終了後に残存しているフォールト数の見積もりを行う方法について考察する．具体的には，我々はまず， ソフトウェアテストの最終段階において，１つのソフトウェアを２つの機能群に分けてテスト項目を作成し，それぞれを２つのチームによってテストとデバッグを行った．そのテストケースがすべて消化された後，チームを入れ替え，確認の意味で再び同一なテストケースを用いてテストを実施したところ，前段でのテストでは発見されなかったソフトウェアフォールトが新たに発見されたため，これらを修正することとなった．このことはいくつかの興味深い点を含み，このようなテストを実施した場合の採取データの解析法などについて述べる． |
| （英） | This paper reports our experience of software reliability evaluation in the actual software development which employs somewhat uncommon testing procedure. The procedure can be called as a two-stage testing by two teams. First we discuss the problems underlying the software testing. We explain the concept of the procedure of the two-stage testing by two teams, and then, a stochastic model which traces the procedure is derived. The model analyzes a data set which were obtained from the real testing activity. By using the result of data analysis, we show some numerical illustrations for the software reliability assessment and the evaluation of the skill level of the test teams. | |
| キーワード | （和） | ソフトウェア信頼性 / ソフトウェアテスト / ２項分布モデル / / / / / |
| （英） | software reliability / software test / binomial distribution model / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 304, R2011-33, pp. 1-5, 2011年11月. | |
| 資料番号 | R2011-33 | |
| 発行日 | 2011-11-11 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2011-33 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2011-11-18 - 2011-11-18 |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部（大阪市） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 電子デバイスの信頼性，信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2011-11-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 2つのテストチームによる2段階ソフトウェアテストに関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Two-stage Software Test by Two Teams |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア信頼性 / software reliability |
| キーワード(2)（和/英） | ソフトウェアテスト / software test |
| キーワード(3)（和/英） | ２項分布モデル / binomial distribution model |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 木村 光宏 / Mitsuhiro Kimura / キムラ ミツヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 法政大学 (略称： 法政大) Hosei University (略称： Hosei Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 隆次 / Takaji Fujiwara / フジワラ タカジ |
| 第2著者 所属（和/英） | SRATECH Laboratory Inc. (略称： SRATECH Lab.) SRATECH Laboratory Inc. (略称： SRATECH Lab.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第3著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-11-18 13:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2011-33 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.304 |
| ページ範囲 | pp.1-5 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2011-11-11 (R) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]