お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2011-11-18 13:30
[招待講演]Analysis and Measurement Technique of Signal Transfer Characteristics in MEMs Probe Pins
Hyeonju BaeLong Luong Duc・○Wansoo NahSungkyunkwan Univ.EMD2011-97 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-97
抄録 (和) In this paper, crosstalk of the MEMs probe connector pins arranged in a grid structure is analyzed with different number of ground pins employed. By employing more ground pins, the crosstalk characteristics enhance, of course, and the design guide for the parameters, such as pin。ッs size and pitch is proposed to satisfy the given crosstalk limitation of -30dB in the high frequency range. The paper also presents a novel algorithm applied to characterize scattering parameters of a multiport interconnect circuit with a 4-port VNA (Vector Network Analyzer). By employing the renormalization of scattering matrices with different reference impedances at other ports, data obtained from 4-port configuration measurements can be synthesized to build the full scattering matrix of the DUT (Device-Under-Test, MEMs probe connector pins). In comparison to the conventional 2-port VNA methods, proposed technique has several advantages: saving of measuring time, and especially its robustness even with open-ended state of unmeasured ports. A good agreement of the estimated and correct S parameters verifies the validness of the algorithm. 
(英) In this paper, crosstalk of the MEMs probe connector pins arranged in a grid structure is analyzed with different number of ground pins employed. By employing more ground pins, the crosstalk characteristics enhance, of course, and the design guide for the parameters, such as pin。ッs size and pitch is proposed to satisfy the given crosstalk limitation of -30dB in the high frequency range. The paper also presents a novel algorithm applied to characterize scattering parameters of a multiport interconnect circuit with a 4-port VNA (Vector Network Analyzer). By employing the renormalization of scattering matrices with different reference impedances at other ports, data obtained from 4-port configuration measurements can be synthesized to build the full scattering matrix of the DUT (Device-Under-Test, MEMs probe connector pins). In comparison to the conventional 2-port VNA methods, proposed technique has several advantages: saving of measuring time, and especially its robustness even with open-ended state of unmeasured ports. A good agreement of the estimated and correct S parameters verifies the validness of the algorithm.
キーワード (和) MEMs / Parameter extraction / Crosstalk / Renormalization Algorithm / 4 port VNA / / /  
(英) MEMs / Parameter extraction / Crosstalk / Renormalization Algorithm / 4 port VNA / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 299, EMD2011-97, pp. 161-166, 2011年11月.
資料番号 EMD2011-97 
発行日 2011-11-10 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2011-97 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-97

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2011-11-17 - 2011-11-18 
開催地(和) 秋田大学 手形キャンパス 
開催地(英) Akita Univ. Tegata Campus 
テーマ(和) 国際セッションIS-EMD2011 
テーマ(英) International Session IS-EMD2011 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2011-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis and Measurement Technique of Signal Transfer Characteristics in MEMs Probe Pins 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) MEMs / MEMs  
キーワード(2)(和/英) Parameter extraction / Parameter extraction  
キーワード(3)(和/英) Crosstalk / Crosstalk  
キーワード(4)(和/英) Renormalization Algorithm / Renormalization Algorithm  
キーワード(5)(和/英) 4 port VNA / 4 port VNA  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Hyeonju Bae / Hyeonju Bae /
第1著者 所属(和/英) Sungkyunkwan University (略称: Sungkyunkwan Univ.)
Sungkyunkwan University (略称: Sungkyunkwan Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Long Luong Duc / Long Luong Duc /
第2著者 所属(和/英) Sungkyunkwan University (略称: Sungkyunkwan Univ.)
Sungkyunkwan University (略称: Sungkyunkwan Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Wansoo Nah / Wansoo Nah /
第3著者 所属(和/英) Sungkyunkwan University (略称: Sungkyunkwan Univ.)
Sungkyunkwan University (略称: Sungkyunkwan Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第3著者 
発表日時 2011-11-18 13:30:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2011-97 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.299 
ページ範囲 pp.161-166 
ページ数
発行日 2011-11-10 (EMD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会