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講演抄録/キーワード
講演名 2011-11-17 17:30
A Robust Solution for Hesitate Phenomenon in Closing Process of Sealed Electromagnetic Relay
Jie DengXuerong YeYue MaGuofu ZhaiHarbin Inst. of Tech.エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-86
抄録 (和) To the Sealed Electromagnetic Relay (SEMR) of small batch and having difficulty in automatic production, so much manual work involved in assembly and adjustment process makes a remarkable hesitate phenomenon. A certain type of SEMR for example, the problem of coil voltage difference in actual production process has been studied in this article. The primary cause of this issue, 2-steps of armature motion in pickup process, has been found by analyzing the matching characteristics of electromagnetic torque and mechanical torque in SEMR. Through optimization of matching characteristics, the voltage difference problem is solved by robust design of reverse reed as a key part. The validity of this research has been proved by the comparison of dynamic characteristics simulation and the practical test of the relay products before and after the optimization. 
(英) To the Sealed Electromagnetic Relay (SEMR) of small batch and having difficulty in automatic production, so much manual work involved in assembly and adjustment process makes a remarkable hesitate phenomenon. A certain type of SEMR for example, the problem of coil voltage difference in actual production process has been studied in this article. The primary cause of this issue, 2-steps of armature motion in pickup process, has been found by analyzing the matching characteristics of electromagnetic torque and mechanical torque in SEMR. Through optimization of matching characteristics, the voltage difference problem is solved by robust design of reverse reed as a key part. The validity of this research has been proved by the comparison of dynamic characteristics simulation and the practical test of the relay products before and after the optimization.
キーワード (和) sealed electromagnetic relay / hesitate phenomenon / reverse reed optimization / robust design / / / /  
(英) sealed electromagnetic relay / hesitate phenomenon / reverse reed optimization / robust design / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 299, EMD2011-86, pp. 103-108, 2011年11月.
資料番号 EMD2011-86 
発行日 2011-11-10 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2011-11-17 - 2011-11-18 
開催地(和) 秋田大学 手形キャンパス 
開催地(英) Akita Univ. Tegata Campus 
テーマ(和) 国際セッションIS-EMD2011 
テーマ(英) International Session IS-EMD2011 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2011-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Robust Solution for Hesitate Phenomenon in Closing Process of Sealed Electromagnetic Relay 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) sealed electromagnetic relay / sealed electromagnetic relay  
キーワード(2)(和/英) hesitate phenomenon / hesitate phenomenon  
キーワード(3)(和/英) reverse reed optimization / reverse reed optimization  
キーワード(4)(和/英) robust design / robust design  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Jie Deng / Jie Deng /
第1著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Xuerong Ye / Xuerong Ye /
第2著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Yue Ma / Yue Ma /
第3著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Guofu Zhai / Guofu Zhai /
第4著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2011-11-17 17:30:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2011-86 
巻番号(vol) IEICE-111 
号番号(no) no.299 
ページ範囲 pp.103-108 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2011-11-10 


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