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講演抄録/キーワード
講演名 2011-10-20 14:20
埋め込み構造によるMOSFETにおけるランダム・テレグラフ・ノイズの低減
鈴木裕彌黒田理人寺本章伸米澤彰浩松岡弘章中澤泰希阿部健一須川成利大見忠弘東北大SDM2011-98 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2011-98
抄録 (和) ブロードチャネル構造によって,劇的なランダム・テレグラフ・ノイズ(RTN)の低減効果を得た.形成されるチャネルの位置をトラップから遠ざけ,チャネルを幅広く形成させることにより,トラップによるクーロン閉塞効果とチャネルパーコレーションを抑制することが,低ノイズ回路の実現につながるRTNの低減に非常に有効であることを見出した. 
(英) Drastic reduction of random telegraph noise (RTN) is demonstrated due to the broad channel MOSFET structure. We found that suppressing the channel percolation and the reducing the trap’s coulomb blockade effect by the channel broadness and the trap-channel distance separation are the keys to the RTN reduction, leading to the developments of low noise circuits.
キーワード (和) RTN / MOSFET / 埋め込みチャネル / / / / /  
(英) RTN / MOSFET / Buried channel / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 249, SDM2011-98, pp. 5-9, 2011年10月.
資料番号 SDM2011-98 
発行日 2011-10-13 (SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2011-98 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2011-98

研究会情報
研究会 SDM  
開催期間 2011-10-20 - 2011-10-21 
開催地(和) 東北大学未来研 
開催地(英) Tohoku Univ. (Niche) 
テーマ(和) プロセス科学と新プロセス技術 
テーマ(英) Process science and new process technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2011-10-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 埋め込み構造によるMOSFETにおけるランダム・テレグラフ・ノイズの低減 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Reduction of Random Telegraph Noise with Broad Channel MOSFET 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) RTN / RTN  
キーワード(2)(和/英) MOSFET / MOSFET  
キーワード(3)(和/英) 埋め込みチャネル / Buried channel  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 裕彌 / Hiroyoshi Suzuki / スズキ ヒロヨシ
第1著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒田 理人 / Rihito Kuroda / クロダ リヒト
第2著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 寺本 章伸 / Akinobu Teramoto / テラモト アキノブ
第3著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 米澤 彰浩 / Akihiro Yonezawa / ヨネザワ アキヒロ
第4著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 松岡 弘章 / Hiroaki Matsuoka / マツオカ ヒロアキ
第5著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 中澤 泰希 / Taiki Nakazawa / ナカザワ タイキ
第6著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 阿部 健一 / Kenichi Abe / アベ ケンイチ
第7著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 須川 成利 / Shigetoshi Sugawa / スガワ シゲトシ
第8著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 大見 忠弘 / Tadahiro Ohmi / オオミ タダヒロ
第9著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-10-20 14:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2011-98 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.249 
ページ範囲 pp.5-9 
ページ数
発行日 2011-10-13 (SDM) 


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