お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2011-05-20 15:50
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル(15) ~
和田真一サインダー ノロブリン越田圭治川述真裕久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2011-7 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-7
抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.本論文では加振機構のうち,ハンマリング加振機構および微摺動機構を用い,これらの加振機構の特性およびこれらによって引き起こされた電気接点における接触抵抗の変動特性について検討を行った.これらの加振機構は,その加振原理がそれぞれハンマリングおよびスライディングという相違があるものの,電気接点に与える影響については,固有振動数および減衰振動比などにおいて共通の特性があることが示唆された. 
(英) Authors have studied the influence on contact resistance by micro-oscillation to electrical contacts using hammering oscillation mechanism in the vertical direction. In this paper, using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism, It was considered that the characteristics of the above two mechanisms and the degradation phenomenon of electrical contacts. Though the two mechanisms have very different principles each other so that by hammering and by sliding, it was shown that there was common characteristics about natural frequency and damping ratio of the mechanisms on the influence of the electrical contacts.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 微摺動機構 / 固有振動数 / 減衰係数比 / 摩擦力  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / hammering oscillating mechanism / micro-sliding mechanism, / natural frequency / damping ratio / frictional force  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 55, EMD2011-7, pp. 33-38, 2011年5月.
資料番号 EMD2011-7 
発行日 2011-05-13 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2011-7 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-7

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2011-05-20 - 2011-05-20 
開催地(和) 東北大学 サイバーサイエンスセンター 
開催地(英) Tohoku Univ. Cyber-Science Center 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2011-05-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗とそのモデル(15) 
タイトル(英) Degrdation phenomenon of electrical contacts using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism 
サブタイトル(英) Contact resistance 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism  
キーワード(5)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism,  
キーワード(6)(和/英) 固有振動数 / natural frequency  
キーワード(7)(和/英) 減衰係数比 / damping ratio  
キーワード(8)(和/英) 摩擦力 / frictional force  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling /
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 川述 真裕 / Masahiro Kawanobe / カワノベ マサヒロ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第6著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 慶大名誉教授/日本工大)
Nippon Institute of Thechnology (略称: NIT)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2011-05-20 15:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2011-7 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.55 
ページ範囲 pp.33-38 
ページ数
発行日 2011-05-13 (EMD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会