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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-05-13 17:15 CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 ○岸 和敬・眞田 克（高知工科大）  R2011-14 |
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| 抄録 | （和） | 診断精度の向上した,簡易で,高速処理可能な故障診断のソフトウェアを開発している.方式はレイ アウトから特定した故障候補を回路に埋め込み,出力電圧値を算出する方式である.前者の故障候補は隣接,交差 配線及び,スルーホールやコンタクトを充当する.後者の出力電圧値の算出はトランジスタ(Tr)の動作点をベ ースとする。まず,公知の方式で絞り込まれた故障エリア内のセルや回路を Tr レベルの回路構成に展開する. そしてレイアウトによる故障候補を回路に埋め込む.次にこの故障候補に起因して形成する貫通電流回路網を特 定する.その後,この回路網を構成する各 Tr に Tr の動作点から算出したインピーダンス(Z)値及び, Tr 構造 の Z 値を付加することで Z 網に置き換える.この Z 網を用いて各ノードの電圧値を算出する.この結果,簡易な 手順で,精度の良く,短時間での診断が可能となった.報告ではこのアルゴリズムとプログラム内容を中心に述 べる. |
| （英） | We have developed fault diagnosis software with easy operation, high diagnosis accuracy and fast processing speed. The technology is the way to embed the candidate fault pattern in fault area circuit detected by public technique, and to calculate output voltage value in it. The former fault patterns are adjoin-lines crossed-lines and via-holes. The latter output voltage calculate is based on analysis of Transistor operation point. First, the method is to take out penetration current net from in the candidate fault area, to calculate impedance value of Tr on the current net, to form impedance (Z)net, next to calculate voltage value each the net node, and to decide the portion accord with real fault logic as defect point. Z value is determined using Tr geometry (L/W) and Tr operation point synchronized with gate voltage. The report is introduced the structure of software and algorithm. | |
| キーワード | （和） | LSI / CMOS / 故障診断 / 動作点解析 / / / / |
| （英） | LSI / CMOS / Fault Diagnosis / Operation Point Analysis / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 33, R2011-14, pp. 35-40, 2011年5月. | |
| 資料番号 | R2011-14 | |
| 発行日 | 2011-05-06 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2011-14 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2011-05-13 - 2011-05-13 |
| 開催地（和） | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 |
| 開催地（英） | Kochi City Culture-Plaza Cul-Port |
| テーマ（和） | ＬＳＩを含む電子デバイスの評価・解析・診断，および信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2011-05-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Candidate Fault Portions Detection using CMOS Transistor Operation Point Analysis |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | LSI / LSI |
| キーワード(2)（和/英） | CMOS / CMOS |
| キーワード(3)（和/英） | 故障診断 / Fault Diagnosis |
| キーワード(4)（和/英） | 動作点解析 / Operation Point Analysis |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岸 和敬 / Kazuaki Kishi / キシ カズアキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： KUT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 眞田 克 / Masaru Sanada / サナダ マサル |
| 第2著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： KUT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-05-13 17:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2011-14 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.33 |
| ページ範囲 | pp.35-40 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-05-06 (R) |
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