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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-05-13 14:10 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVth分布観察 ○本田耕一郎（富士通研）・長 康雄（東北大）  R2011-9 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
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| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 33, R2011-9, pp. 7-12, 2011年5月. | |
| 資料番号 | R2011-9 | |
| 発行日 | 2011-05-06 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2011-9 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2011-05-13 - 2011-05-13 |
| 開催地（和） | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 |
| 開催地（英） | Kochi City Culture-Plaza Cul-Port |
| テーマ（和） | ＬＳＩを含む電子デバイスの評価・解析・診断，および信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2011-05-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVth分布観察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Observation of Vth Distribution of MONOS Flash Memory Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy |
| サブタイトル（英） | |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 本田 耕一郎 / Koichiro Honda / ホンダ コウイチロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 富士通研究所 (略称： 富士通研) Fujitsu Laboratories Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長 康雄 / Yasuo Cho / |
| 第2著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-05-13 14:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2011-9 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.33 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-05-06 (R) |
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