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講演抄録/キーワード
講演名 2011-05-12 13:55
動的再構成可能アーキテクチャによる故障回避機構の定量的信頼性評価
郡浦宏明阪大)・密山幸男高知工科大)・橋本昌宜尾上孝雄阪大RECONF2011-6
抄録 (和) 磨耗故障対策として,動的再構成可能アーキテクチャを用いた故障回避機構がいくつか提案されている.これらの機構を用いて達成される寿命延長効果について,その有効性を示すためには定量的な比較・評価が求められている.本研究では,5つの故障回避方式について同一回路の寿命を定量的に評価した結果を示す.評価結果より,1)
平均回路寿命(MTTF: Mean Time To Failure) と故障回避数の間には高い相関性が見られること,2) 各方式で予備回路の使用効率が大きく異なること,3) 寿命延長効果を最大化するため,予備回路を劣化から守る必要があることを明らかにした. 
(英) For wear-out failures, some fault avoidance methods on dynamically reconfigurable devices have been discussed. In order to discuss the efficiency of these fault avoidance methods, the life-time extension achieved by them should be evaluated and compared quantitatively. This paper shows quantitative life-time evaluation results on dynamically reconfigurable devices with five fault avoidance methods. Experimental results reveal 1) MTTF (Mean Time To Failure) is highly correlated with the number of avoided faults, 2) there is the efficiency difference of spare usage in five fault avoidance methods, and 3) spares should be prevented from wear-out not to spoil life-time enhancement.
キーワード (和) 故障回避 / 部分的配置配線 / MTTF (Mean Time To Failure) / / / / /  
(英) Fault avoidance / Partial placing and routing / MTTF (Mean Time To Failure) / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 31, RECONF2011-6, pp. 31-36, 2011年5月.
資料番号 RECONF2011-6 
発行日 2011-05-05 (RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード RECONF2011-6

研究会情報
研究会 RECONF  
開催期間 2011-05-12 - 2011-05-13 
開催地(和) 北海道大学工学部B3棟 
開催地(英) Hokkaido Univ. (Faculty of Eng., B3 Bldg.) 
テーマ(和) リコンフィギャラブルシステム、一般 
テーマ(英) Reconfigurable Systems, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 RECONF 
会議コード 2011-05-RECONF 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 動的再構成可能アーキテクチャによる故障回避機構の定量的信頼性評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Evaluation of reliability enhancement achieved by fault avoidance on dynamically reconfigurable architectures 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 故障回避 / Fault avoidance  
キーワード(2)(和/英) 部分的配置配線 / Partial placing and routing  
キーワード(3)(和/英) MTTF (Mean Time To Failure) / MTTF (Mean Time To Failure)  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 郡浦 宏明 / Hiroaki Konoura / コウノウラ ヒロアキ
第1著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 密山 幸男 / Yukio Mitsuyama / ミツヤマ ユキオ
第2著者 所属(和/英) 高知工科大学 (略称: 高知工科大)
Kochi University of Technology (略称: Kochi Univ. Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / ハシモト マサノリ
第3著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 尾上 孝雄 / Takao Onoye / オノエ タカオ
第4著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
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講演者
発表日時 2011-05-12 13:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 RECONF 
資料番号 IEICE-RECONF2011-6 
巻番号(vol) IEICE-111 
号番号(no) no.31 
ページ範囲 pp.31-36 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-RECONF-2011-05-05 


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