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講演抄録/キーワード
講演名 2011-03-10 15:55
非正常系現象に着目した組込みシステムの障害シナリオ分析手法
三瀬敏朗新屋敷泰史パナソニック電工)・片峯恵一橋本正明九工大)・中谷多哉子筑波大)・鵜林尚靖九大KBSE2010-50
抄録 (和) 家電製品等のソフトウェア組込み製品の安全性を向上させるため,ソフトウェアの要求仕様設定時に製品の障害発生可能性を発見する手段として,分析マトリクスとそれを適用した障害シナリオ分析手法ESIM(Embedded System Improving Method)について述べる.組込みシステムの障害には,製品の中の一装置が重大な故障を起し,それが唯一の原因となって発生するものと,軽微な故障がいくつか重複して発生するものがある.前者は,既存の障害分析手法によって想定できているが.後者は,重大なものがあるにも係わらず,その軽微な故障の存在も含めて,想定が困難となっている.特に,いくつかの故障の発生タイミングを動的に分析しなければ判明しない障害は,想定が困難である.本稿では,後者の障害を分析するための分析マトリクスの概念を明確にするとともに,実用性を考慮した分析範囲の絞り込み方法について述べる.また,実用性と有効性を確認するために,実際のプロジェクトに適用した. 
(英) This paper describes an analysis matrix and its method for extracting failure scenarios named ESIM (Embedded System Improving Method) in order to improve the safety of embedded system products such as the household electrical appliances. The method extracts product failures at the definition of the software requirement specifications. We can extract product failures by using existing failure analysis method when the failure occurs due to single serious fault of one device of the product. On the other hand, it is difficult to extract a failure which occurs by overlapping some minor faults although it is a serious problem. Especially, it is hard to extract failures that can only be found by analyzing the timing of the fault occurrence dynamically. This paper refines the analysis matrix which can dynamically analyze overlapping minor faults. It also describes a case study applied to an actual product development project, and discusses about effectiveness and practicality.
キーワード (和) 組込みソフトウェア / 障害分析手法 / 障害シナリオ / 要求分析 / / / /  
(英) Embedded Software / A Method for Extracting Failure / Failure Scenario / Requirements Analysis / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 468, KBSE2010-50, pp. 19-24, 2011年3月.
資料番号 KBSE2010-50 
発行日 2011-03-03 (KBSE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード KBSE2010-50

研究会情報
研究会 KBSE  
開催期間 2011-03-10 - 2011-03-11 
開催地(和) 別府国際コンベンションセンター 
開催地(英) Beppu International Convention Center 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 KBSE 
会議コード 2011-03-KBSE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 非正常系現象に着目した組込みシステムの障害シナリオ分析手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Method to Analyze Failure Scenarios of Embedded Systems by Using Unexpected Phenomena 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 組込みソフトウェア / Embedded Software  
キーワード(2)(和/英) 障害分析手法 / A Method for Extracting Failure  
キーワード(3)(和/英) 障害シナリオ / Failure Scenario  
キーワード(4)(和/英) 要求分析 / Requirements Analysis  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三瀬 敏朗 / Toshiro Mise / ミセ トシロウ
第1著者 所属(和/英) パナソニック電工株式会社 (略称: パナソニック電工)
Panasonic Electric Works Co.,Ltd (略称: Panasonic Electric Works)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 新屋敷 泰史 / Yasufumi Shinyashiki / シンヤシキ ヤスフミ
第2著者 所属(和/英) パナソニック電工株式会社 (略称: パナソニック電工)
Panasonic Electric Works Co.,Ltd (略称: Panasonic Electric Works)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 片峯 恵一 / Keiichi Katamine / カタミネ ケイイチ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: Kyusyu Inst. of Tech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋本 正明 / Masaaki Hashimoto / ハシモト マサアキ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称: Kyusyu Inst. of Tech)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 中谷 多哉子 / Takako Nakatani / ナカタニ タカコ
第5著者 所属(和/英) 筑波大学 (略称: 筑波大)
University of Tsukuba (略称: University of Tsukuba)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 鵜林 尚靖 / Naoyasu Ubayashi / ウバヤシ ナオヤス
第6著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu University)
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講演者
発表日時 2011-03-10 15:55:00 
発表時間 40 
申込先研究会 KBSE 
資料番号 IEICE-KBSE2010-50 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.468 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-KBSE-2011-03-03 


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