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講演抄録/キーワード
講演名 2011-03-04 09:50
一般的なMDL基準のBayesianネットワークの構造推定への応用 ~ 離散と連続な確率変数が混在する場合 ~
鈴木 譲阪大IT2010-106 ISEC2010-110 WBS2010-85
抄録 (和) MDL原理に基づいてBayesianネットワークの構造を推定することは、この20年くらいの間に色々研究されてきた。しかし、それらはすべて各データが離散であることを仮定している。連続だと符号化できず、記述長が計算できないからだ。本稿では、データが離散でも連続でも、混在していても、情報源のモデルを漸近的に正しく推定できる方法を提案する。連続であっても、MDL原理が同様に適用できる、という結論である。 
(英) We propose the MDL principle without assuming the source to be discrete.
As an application, we consider estimation of Bayesian network structures
when both discrete and continuous random variables are presented in the same
Bayesian network.
キーワード (和) MDL原理 / Bayesian ネットワーク / ユニバーサル符号化 / Kullback-Leiblerダイバージェンス / Radon-Nikodym 微分 / / /  
(英) MDL pronciple / Bayesian network / universal coding / Kullback-Leibler divergence / Radon-Nikodym derivative / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 442, IT2010-106, pp. 249-254, 2011年3月.
資料番号 IT2010-106 
発行日 2011-02-24 (IT, ISEC, WBS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード IT2010-106 ISEC2010-110 WBS2010-85

研究会情報
研究会 ISEC IT WBS  
開催期間 2011-03-03 - 2011-03-04 
開催地(和) 大阪大学 
開催地(英) Osaka University 
テーマ(和) 一般:情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IT 
会議コード 2011-03-ISEC-IT-WBS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 一般的なMDL基準のBayesianネットワークの構造推定への応用 
サブタイトル(和) 離散と連続な確率変数が混在する場合 
タイトル(英) A Generalized MDL Criterion and its Application to Learning Bayesian Network Structure 
サブタイトル(英) When Both Discrete and Continuous Data are Present 
キーワード(1)(和/英) MDL原理 / MDL pronciple  
キーワード(2)(和/英) Bayesian ネットワーク / Bayesian network  
キーワード(3)(和/英) ユニバーサル符号化 / universal coding  
キーワード(4)(和/英) Kullback-Leiblerダイバージェンス / Kullback-Leibler divergence  
キーワード(5)(和/英) Radon-Nikodym 微分 / Radon-Nikodym derivative  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 譲 / Joe Suzuki / スズキ ジョウ
第1著者 所属(和/英) 大阪大学 (略称: 阪大)
Osaka University (略称: Osaka Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-03-04 09:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 IT 
資料番号 IT2010-106, ISEC2010-110, WBS2010-85 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.442(IT), no.443(ISEC), no.444(WBS) 
ページ範囲 pp.249-254 
ページ数
発行日 2011-02-24 (IT, ISEC, WBS) 


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