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講演抄録/キーワード
講演名 2011-02-24 12:00
量子ドットと並列ネットワークにおける単電子確率共鳴
葛西誠也北大/JST)・白鳥悠太三浦健輔中野雄紀北大ED2010-206 SDM2010-241 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2010-206 SDM2010-241
抄録 (和) 熱ゆらぎによって駆動される量子ドット並列加算ネットワークにおける単電子確率共鳴に関し,ドットばらつきの効果についてシミュレーションを中心とした検討を行った.ドットがばらつくと個々の確率共鳴応答もばらつく.しかし,ネットワーク全体の応答は,均一ドットネットワークの応答に収束する様子が見いだされた.この振舞いはFETしきい値分散ネットワークの挙動とは異なっている. 
(英) We investigate the effect of physical variation on single-electron stochastic resonance (SE-SR) in the quantum-dot parallel summing network. Analysis is carried out using a commercial single electron circuit simulator. The SR response in each dot is changed when the dot capacitance is changed, corresponding with the dot size variation. However, the total response of the network system integrating varied dots is found to converge to that of the system consisting uniform dots. This result is quite different from the behavior of the varied threshold-voltage FET network, where the response obeys the envelope of response curve from each device.
キーワード (和) 確率共鳴 / 単電子 / 量子ドット / 熱ゆらぎ / ばらつき / / /  
(英) Stochastic Resonance / Single Electron / Quantum Dot / Thermal Fluctuation / Variation / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 423, ED2010-206, pp. 79-82, 2011年2月.
資料番号 ED2010-206 
発行日 2011-02-16 (ED, SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ED2010-206 SDM2010-241 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2010-206 SDM2010-241

研究会情報
研究会 SDM ED  
開催期間 2011-02-23 - 2011-02-24 
開催地(和) 北海道大学 百年記念会館 
開催地(英) Hokkaido Univ. 
テーマ(和) 機能ナノデバイス及び関連技術 
テーマ(英) Functional nanodevices and related technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ED 
会議コード 2011-02-SDM-ED 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 量子ドットと並列ネットワークにおける単電子確率共鳴 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Characterization of Single-Electron Stochastic Resonance in A Quantum Dot and Its Parallel Network 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 確率共鳴 / Stochastic Resonance  
キーワード(2)(和/英) 単電子 / Single Electron  
キーワード(3)(和/英) 量子ドット / Quantum Dot  
キーワード(4)(和/英) 熱ゆらぎ / Thermal Fluctuation  
キーワード(5)(和/英) ばらつき / Variation  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 葛西 誠也 / Seiya Kasai / カサイ セイヤ
第1著者 所属(和/英) 北海道大学/JST (略称: 北大/JST)
Hokkaido University/JST (略称: Hokkaido Univ./JST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 白鳥 悠太 / Yuta Shiratori / シラトリ ユウタ
第2著者 所属(和/英) 北海道大学 (略称: 北大)
Hokkaido University (略称: Hokkaido Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 三浦 健輔 / Kensuke Miura / ミウラ ケンスケ
第3著者 所属(和/英) 北海道大学 (略称: 北大)
Hokkaido University (略称: Hokkaido Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 中野 雄紀 / Yuki Nakano / ナカノ ユウキ
第4著者 所属(和/英) 北海道大学 (略称: 北大)
Hokkaido University (略称: Hokkaido Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-02-24 12:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ED 
資料番号 ED2010-206, SDM2010-241 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.423(ED), no.424(SDM) 
ページ範囲 pp.79-82 
ページ数
発行日 2011-02-16 (ED, SDM) 


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