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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-02-18 15:00 IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出 ○坂本俊輔・眞田 克（高知工科大）  R2010-46 EMD2010-147 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-147 |
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| 抄録 | （和） | 電源電流(IDDQ)情報は論理情報に比べて高い故障検出感度を有しているためLSI評価に広く用いられている．我々はこの技術を特性の劣化兆候の検出へ適用した．初期の劣化は微小なリーク電流を発生させるため識別に工夫が必要である．さらに、劣化の進行に伴うリーク電流の増加を確実に検出する必要がある．このため、テストベクター対IDDQ値のデータをフーリエ変換して算出されるパワースペクトルの変化をモニターすることで顕在化を試みた．この結果、正常値に対して約1/1000の微小変動からの進行を捉えることができた．このデータをもとに未来の論理故障に到る時期を予測するための問題点を述べる． |
| （英） | VDD supply current (IDDQ) information has been applied to detect LSI evaluation technology, IDDQ which has high fault detection sensitivity comparison with logic information. We used the IDDQ data to confirm degradation sign of LSI operation. For identification of early degradation with tiny leakage current, and clear detection of leakage current value growth brought with degradation progress, mathematical analysis way is worked. The technology is that data between test vector number versus IDDQ value is converted by Fourier transformation and is fabricated to power spectrum, which actualizes degradation sign. As a result, progress from tiny change of about 1/1000 on normal value was measured. Controversial points are discussed for prediction times of circuit operation down. | |
| キーワード | （和） | 電源電流 / LSI / 劣化 / フーリエ変換 / パワースペクトル / / / |
| （英） | IDDQ / LSI / Degradation / Fourier Transformation / Power spectrum / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 415, R2010-46, pp. 25-30, 2011年2月. | |
| 資料番号 | R2010-46 | |
| 発行日 | 2011-02-11 (R, EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2010-46 EMD2010-147 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-147 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD R |
| 開催期間 | 2011-02-18 - 2011-02-18 |
| 開催地（和） | 静岡大学（浜松キャンパス） |
| 開催地（英） | Shizuoka Univ. (Hamamatsu) |
| テーマ（和） | 機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2011-02-EMD-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Detection of degradation sign of LSI operation using IDDQ |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源電流 / IDDQ |
| キーワード(2)（和/英） | LSI / LSI |
| キーワード(3)（和/英） | 劣化 / Degradation |
| キーワード(4)（和/英） | フーリエ変換 / Fourier Transformation |
| キーワード(5)（和/英） | パワースペクトル / Power spectrum |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂本 俊輔 / Shunsuke Sakamoto / サカモト シュンスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： KUT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 眞田 克 / Masaru Sanada / サナダ マサル |
| 第2著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： KUT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-02-18 15:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2010-46, EMD2010-147 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.415(R), no.416(EMD) |
| ページ範囲 | pp.25-30 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-02-11 (R, EMD) |
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