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講演抄録/キーワード
講演名 2011-02-14 10:25
実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
坂井僚太宮瀬紘平温 暁青九工大)・麻生正雄古川 寛ルネサス マイクロシステム)・大和勇太福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司九工大DC2010-60
抄録 (和) 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の原因となる.そのため,テストベクトルに対して正確にキャプチャ安全性判定を行い,歩留り低下の原因となる危険なテストベクトルを判別することが重要である.本研究では,論理回路中の各ゲートで起こる遷移のタイミングを考慮したTTR (Transition-Time-Relation) キャプチャ安全性判定手法を提案する.実験結果では,TTRを用いることでキャプチャ安全性判定の正確性が向上することを示す. 
(英) Excessive capture power in at-speed scan testing may cause timing failures, resulting in test-induced yield loss. This has made capture-safety checking mandatory for test vectors. This paper presents a novel metric, called the TTR (Transition-Time-Relation) metric, which takes transition time relations into consideration in capture-safety checking. Capture-safety checking with the TTR metric greatly improves the accuracy of test vector sign-off and low-capture-power test generation.
キーワード (和) 実速度テスト / ATPG / 低消費電力テスト / キャプチャ安全性判定 / / / /  
(英) At-speed testing / ATPG / Low-power-test / Capture-safety checking / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 413, DC2010-60, pp. 7-12, 2011年2月.
資料番号 DC2010-60 
発行日 2011-02-07 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2010-60

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2011-02-14 - 2011-02-14 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2011-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Capture-Safety Checking Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Test Vectors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 実速度テスト / At-speed testing  
キーワード(2)(和/英) ATPG / ATPG  
キーワード(3)(和/英) 低消費電力テスト / Low-power-test  
キーワード(4)(和/英) キャプチャ安全性判定 / Capture-safety checking  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 坂井 僚太 / Ryota Sakai / サカイ リョウタ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 麻生 正雄 / Masao Aso / アソウ マサオ
第4著者 所属(和/英) ルネサス マイクロシステム株式会社 (略称: ルネサス マイクロシステム)
Renesas Micro Systems Co., Ltd. (略称: RMS)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 古川 寛 / Hiroshi Furukawa / フルカワ ヒロシ
第5著者 所属(和/英) ルネサス マイクロシステム株式会社 (略称: ルネサス マイクロシステム)
Renesas Micro Systems (略称: RMS)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 大和 勇太 / Yuta Yamato / ヤマト ユウタ
第6著者 所属(和/英) 福岡県産業・科学技術振興財団 (略称: 福岡県産業・科学技術振興財団)
Fukuoka Industry, Science & Technology Fundation (略称: Fukuoka Ind. Sci & Tech/Fundation FIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第7著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyushu Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2011-02-14 10:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2010-60 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.413 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2011-02-07 


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