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講演抄録/キーワード
講演名 2011-01-28 15:40
タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(1) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕石塚大貴柳 国男小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-141
抄録 (和) 著者らは,ハンマリング加振機構(HOM),摺動接触機構(SCM),および3次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が電気接点に与える影響について検討してきた.しかし,これらの機構では,対象物を専用のステージ上に載せる必要があるため,比較的大きなシステム内およびフィールド内における電気接点の試験を行うことには困難があった.そこで著者らは,専用のステージが必要なく,また,ある程度の定量性をもつ,ハンディな“タッピング・デバイス(TPD)”を開発し試作した.本デバイスによれば,実施者の特殊な技量によらず被加振物に対して定荷重・定エネルギーで加振できることが示唆された.さらに,数学的および機械工学的なモデルにより本デバイスの動作特性を解析することが可能であることが示された. 
(英) Authors have studied the influence on electrical contact resistance by external micro-oscillation using a hammering oscillation mechanism (HOM), a sliding contact mechanism (SCM) and a 3 dimensional oscillating mechanism (3DOM). However, it was difficult to inspect the degradation phenomenon of electrical contacts in relatively larger systems or in equipments in the field by means of the mechanisms in which the objective materials were requested to be on the stage. Therefore they have developed and made a handy “tapping device (TPD)” experimentally without a special stage for the inspection but with quantitative property to some extent. It was suggested that the device could provide the oscillations for the objects with constant loads and energies but without regard to proficient operators’ skills. And it was shown that the dynamical characteristics of the device were able to be analyzed by virtue of mathematical and mechanical models.
キーワード (和) 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / タッピング・デバイス / ハンマリング加振機構 / / /  
(英) electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / tapping device / hammering oscillating mechanism / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 403, EMD2010-141, pp. 35-40, 2011年1月.
資料番号 EMD2010-141 
発行日 2011-01-21 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2011-01-28 - 2011-01-28 
開催地(和) 日本航空電子工業株式会社 
開催地(英) Japan Aviation Electronics Industry,Limited 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) Electromechanical Devices 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2011-01-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) タッピング・デバイスの試作(1) 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by a tapping device 
サブタイトル(英) A tapping device for trial (1) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) タッピング・デバイス / tapping device  
キーワード(5)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 川述 真裕 / Masahiro Kawanobe / カワノベ マサヒロ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 石塚 大貴 / Daiki Ishizuka / イシヅカ ダイキ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ
第6著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 小田部 正能 / Masayoshi Kotabe / コタベ マサヨシ
第7著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第8著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 久我 宣裕 / Nobuhiro Kuga / クガ ノブヒロ
第9著者 所属(和/英) 横浜国立大学 (略称: 横浜国大)
Yokohama National University (略称: Yokohama Nat'l Univ.)
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第10著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 慶大名誉教授/日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2011-01-28 15:40:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2010-141 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.403 
ページ範囲 pp.35-40 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2011-01-21 


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