お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2011-01-28 13:25
錫めっき摺動接点の三次元微細構造
伊藤哲也荻原 茂服部康弘オートネットワーク技研EMD2010-136 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-136
抄録 (和) 自動車用コネクタの接点の障害事例のひとつとして、微摺動摩耗による抵抗上昇がある。今回、我々は、FIB-SEMを用いた錫めっき摺動接点の三次元構造観察を実施した。接点部の三次元構造の推移から、微摺動摩耗による抵抗上昇について考察を行ったので報告する。 
(英) Fretting corrosion, by which the contact resistance increases, is one of the typical problems occurred in automotive connector contacts. In this report, three-dimensional observations using Focused Ion Beam (FIB) - SEM method have been made for tin plated fretting contacts. With the three dimensional structural transition of the tin plated contacts, contact resistance increase by the fretting have been examined.
キーワード (和) 微摺動 / FIB-SEM / / / / / /  
(英) Fretting / FIB-SEM / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 403, EMD2010-136, pp. 5-10, 2011年1月.
資料番号 EMD2010-136 
発行日 2011-01-21 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2010-136 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-136

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2011-01-28 - 2011-01-28 
開催地(和) 日本航空電子工業株式会社 
開催地(英) Japan Aviation Electronics Industry,Limited 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英) Electromechanical Devices 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2011-01-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 錫めっき摺動接点の三次元微細構造 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Three-Dimensional Micro-Structural Study of Tin Plated Fretting Contacts 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 微摺動 / Fretting  
キーワード(2)(和/英) FIB-SEM / FIB-SEM  
キーワード(3)(和/英) /  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 哲也 / Tetsuya Ito / イトウ テツヤ
第1著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: ANT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 荻原 茂 / Shigeru Ogihara / オギハラ シゲル
第2著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: ANT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ
第3著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: ANT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2011-01-28 13:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2010-136 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.403 
ページ範囲 pp.5-10 
ページ数
発行日 2011-01-21 (EMD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会