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講演抄録/キーワード
講演名 2010-12-10 14:55
マイクロストリップライン構造EMI試験装置を用いた小型デバイスのノイズ定量化
川端恵理香パナソニック フォト・ライティング)・崎山一幸山田 徹パナソニック)・谷口俊彦パナソニック フォト・ライティングEMCJ2010-94
抄録 (和) 近年,デバイス部品でのEMC試験の実施要望が増えてきている.本論文では,部品単体からのノイズ放射量を簡易な方式で見積もる手法について示す.小型電子部品のEMS評価手法として,我々は既にマイクロストリップ線路構造を用いた評価手法を提案しているが,本手法は,同じマイクロストリップ線路構造を用いて,小型電子部品からの放射ノイズを簡易に観測する手法である.特に,微弱な放射ノイズの定量化にあたり,ノイズ検出性能を定義し,本マイクロストリップ線路構造を用いた装置と従来のTEMセルの比較を本手法の特徴を電磁界により示すとともに,小型部品からの放射ノイズを模擬したアンテナモデルを用い30M~2.5GHz帯域でノイズ検出性能について実験解析を示すものである.さらに,500MHz以下の低周波帯域では,マイクロストリップ線路と評価部品間の結合容量のために,ノイズ検出の性能は,デバイスの形状・配置条件等に依存することを示し,ノイズ量の校正手法の考え方について言及し,本手法がEMS試験と共用できるマイクロストリップ線路構造のEMI測定装置として有効であることを示す. 
(英) Recently, a great demand for the execution of EMC tests to electric small devices has increased. In this paper, novel measuring method for EMI observation of electric device radiation noise is proposed. The instrument is constructed by microstripline structure which have been already applied for our EMS testing. It has high sensitivity for weak noise power and effective to use multi-usage EMC evaluation. At first, the noise detection performance of this instrument by measuring the small emission noise quantitatively is evaluated, and this maicrostripline structure get better performance compared to the ordinary TEM cell instrument. Next, by using of standard antenna model which approximate noise source, the noise detection performance is evaluated by experiment and analysis from 30MHz to 2.5GHz band. Furthermore, less than 500MHz band, the noise detection performance depends on formdevice shape and position, because of capacitance coupling between microstripline and DUT. Finally, the calibration method for noise quantification is proposed. This EMI evaluation method using the test instrument of the microstripline structure is very effective as well as EMS evaluation.
キーワード (和) EMC / マイクロストリップライン / TEMモード / 磁界結合 / 電界結合 / / /  
(英) EMC / Microstripline / TEM mode / Magnetic field coupling / Electric field coupling / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 332, EMCJ2010-94, pp. 75-80, 2010年12月.
資料番号 EMCJ2010-94 
発行日 2010-12-03 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2010-94

研究会情報
研究会 EMCJ IEE-EMC  
開催期間 2010-12-10 - 2010-12-10 
開催地(和) 中京大学 豊田キャンパス 
開催地(英) Chukyo Univ. Toyoda Campus 
テーマ(和) 電力,生体,EMC,一般 
テーマ(英) Electric Power, EMC, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2010-12-EMCJ-EMC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マイクロストリップライン構造EMI試験装置を用いた小型デバイスのノイズ定量化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Quantification of Small Devices using EMI Test Instrument with Microstripline Structure 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) EMC / EMC  
キーワード(2)(和/英) マイクロストリップライン / Microstripline  
キーワード(3)(和/英) TEMモード / TEM mode  
キーワード(4)(和/英) 磁界結合 / Magnetic field coupling  
キーワード(5)(和/英) 電界結合 / Electric field coupling  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 川端 恵理香 / Erika Kawabata / カワバタ エリカ
第1著者 所属(和/英) パナソニック フォト・ライティング株式会社 (略称: パナソニック フォト・ライティング)
Panasonic Photo & Lighting Co., Ltd. (略称: PPL)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 崎山 一幸 / Kazuyuki Sakiyama / サキヤマ カズユキ
第2著者 所属(和/英) パナソニック株式会社 (略称: パナソニック)
Panasonic Co., Ltd. (略称: Panasonic)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山田 徹 / Toru Yamada / ヤマダ トオル
第3著者 所属(和/英) パナソニック株式会社 (略称: パナソニック)
Panasonic Co., Ltd. (略称: Panasonic)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 谷口 俊彦 / Toshihiko Taniguchi / タニグチ トシヒコ
第4著者 所属(和/英) パナソニック フォト・ライティング株式会社 (略称: パナソニック フォト・ライティング)
Panasonic Photo & Lighting Co., Ltd. (略称: PPL)
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講演者
発表日時 2010-12-10 14:55:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 IEICE-EMCJ2010-94 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.332 
ページ範囲 pp.75-80 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMCJ-2010-12-03 


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