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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-03 13:35 公開鍵暗号の乱数漏洩に関する一考察 ○並木 均・安永憲司・田中圭介（東工大）  COMP2010-42 |
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| 抄録 | （和） | Naor と Segev により公開鍵暗号の秘密鍵が漏洩した場合の研究が行われ, 秘密鍵漏洩に対して安全な公開鍵暗号方式の一般的な構成法が提案されている. しかし, 暗号化に用いる乱数の漏洩に関する研究は我々の知る限りでは存在しない. そこで, 本研究では暗号化に用いられる乱数が漏洩した場合の公開鍵暗号について考察を行った. 秘密鍵漏洩に対する安全性の定義を元に, 新たに公開鍵暗号における乱数漏洩に対する安全性の概念を二種類定義した. そして一方の乱数漏洩下での安全性に対しては, その安全性を満たす一般的な公開鍵暗号方式の構成法を提案した. また, もう一方の乱数漏洩下での安全性は, それを満たす公開鍵暗号の構成が不可能であることを証明した. |
| （英） | We consider the problem of constructing public-key encryption schemes that are resilient to leaking the randomness used in the encryption algorithm. Recently, Naor and Segev (CRYPTO2009) showed that public-key encryption schemes which are resilient to key leakage are generally constructed from hash proof systems. However the situation of randomness leakage in the encryption algorithm has never been considered. In this paper, we formalize the attacks on randomness leakage, and propose new security notions of public-key encryption. We give a general construction of public-key encryption schemes which are resilient to the randomness-leakage attacks. Furthermore, we extend our general construction in order to prevent both the key-leakage and the randomness-leakage attacks. This article is a technical report without peer review, and its polished version wil l be published elsewhere. |
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| キーワード | （和） | 公開鍵暗号 / 乱数漏洩 / 秘密鍵漏洩 / / / / / |
| （英） | public-key encryption / randomness leakage / key leakage / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 325, COMP2010-42, pp. 23-28, 2010年12月. | |
| 資料番号 | COMP2010-42 | |
| 発行日 | 2010-11-26 (COMP) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | COMP2010-42 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | COMP |
| 開催期間 | 2010-12-03 - 2010-12-03 |
| 開催地（和） | 九州工業大学 Kyutechプラザ |
| 開催地（英） | Kyutech Plaza, Kyushu Institute of Technology |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | COMP |
| 会議コード | 2010-12-COMP |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | 公開鍵暗号の乱数漏洩に関する一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Randomness Leakage in Public-Key Encryption |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 公開鍵暗号 / public-key encryption |
| キーワード(2)（和/英） | 乱数漏洩 / randomness leakage |
| キーワード(3)（和/英） | 秘密鍵漏洩 / key leakage |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 並木 均 / Hitoshi Namiki / ナミキ ヒトシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安永 憲司 / Kenji Yasunaga / ヤスナガ ケンジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 圭介 / Keisuke Tanaka / タナカ ケイスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-12-03 13:35:00 |
| 発表時間 | 35分 |
| 申込先研究会 | COMP |
| 資料番号 | COMP2010-42 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.325 |
| ページ範囲 | pp.23-28 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-11-26 (COMP) |
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