講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-11-29 14:50
マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法 ○邊見勇登・吉川祐樹・市原英行・井上智生(広島市大) VLD2010-60 DC2010-27 |
抄録 |
(和) |
近年,VLSI の高機能化,高集積化に伴い,放射線衝突によるソフトエラーの発生が懸念されている.特に近年の微細化と高速動作により,そのソフトエラーは1つのシステムに収まらず,複数サイクルに継続して影響する可能性が示されている.
本研究では,そのようなソフトエラーの影響をマルチサイクルの過渡故障としてモデル化し,マルチサイクル故障に耐性をもつデータパスを合成するためのバインディング法について議論する.3重化システムを対象に,マルチサイクルエラーの検出および訂正可能なデータパスのための演算器バインディングの条件を明らかにし,誤り訂正を指向した演算器バインディング法を提案する.提案法をいくつかの回路例に適用した結果は,マルチサイクル故障の耐性に応じた適切な演算器バインディングができることを示している. |
(英) |
As the advance in semiconductor technology, the issue of soft errors, which are transient glitches caused by particle strikes and high-energy cosmic rays, increases. In general, soft errors in today's high-speed VLSIs occur during multi-cycles, so that the VLSI system tolerable to the multi-cycle soft errors are required.
In this paper, we discuss high-level synthesis for fault-tolerant datapaths to multi-cycle soft errors. For triple module redundant datapaths, we clarify the condition of functional unit binding such that the multi-cycle errors in the synthesized datapaths are detectable and correctable. Based on this condition, we present a functional unit binding method for the datapaths that can correct multi-cycle soft errors.
Applications to some datapaths show that the proposed binding method can synthesize multi-cycle tolerant datapaths with small resources. |
キーワード |
(和) |
高位合成 / 演算器バインディング / 過渡故障 / 誤り検出/訂正 / / / / |
(英) |
High-level synthesis / Functional unit binding / Transient fault / Error detection/correction / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 317, DC2010-27, pp. 25-30, 2010年11月. |
資料番号 |
DC2010-27 |
発行日 |
2010-11-22 (VLD, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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VLD2010-60 DC2010-27 |
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