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講演抄録/キーワード
講演名 2010-11-29 14:50
マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法
邊見勇登吉川祐樹市原英行井上智生広島市大VLD2010-60 DC2010-27
抄録 (和) 近年,VLSI の高機能化,高集積化に伴い,放射線衝突によるソフトエラーの発生が懸念されている.特に近年の微細化と高速動作により,そのソフトエラーは1つのシステムに収まらず,複数サイクルに継続して影響する可能性が示されている.
本研究では,そのようなソフトエラーの影響をマルチサイクルの過渡故障としてモデル化し,マルチサイクル故障に耐性をもつデータパスを合成するためのバインディング法について議論する.3重化システムを対象に,マルチサイクルエラーの検出および訂正可能なデータパスのための演算器バインディングの条件を明らかにし,誤り訂正を指向した演算器バインディング法を提案する.提案法をいくつかの回路例に適用した結果は,マルチサイクル故障の耐性に応じた適切な演算器バインディングができることを示している. 
(英) As the advance in semiconductor technology, the issue of soft errors, which are transient glitches caused by particle strikes and high-energy cosmic rays, increases. In general, soft errors in today's high-speed VLSIs occur during multi-cycles, so that the VLSI system tolerable to the multi-cycle soft errors are required.
In this paper, we discuss high-level synthesis for fault-tolerant datapaths to multi-cycle soft errors. For triple module redundant datapaths, we clarify the condition of functional unit binding such that the multi-cycle errors in the synthesized datapaths are detectable and correctable. Based on this condition, we present a functional unit binding method for the datapaths that can correct multi-cycle soft errors.
Applications to some datapaths show that the proposed binding method can synthesize multi-cycle tolerant datapaths with small resources.
キーワード (和) 高位合成 / 演算器バインディング / 過渡故障 / 誤り検出/訂正 / / / /  
(英) High-level synthesis / Functional unit binding / Transient fault / Error detection/correction / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 317, DC2010-27, pp. 25-30, 2010年11月.
資料番号 DC2010-27 
発行日 2010-11-22 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2010-60 DC2010-27

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2010-11-29 - 2010-12-01 
開催地(和) 九州大学医学部百年講堂 
開催地(英) Kyushu University 
テーマ(和) デザインガイア2010 ―VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2010 ―New Field of VLSI Design― 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2010-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Binding Algorithm for Multi-cycle Fault Tolerant Datapaths 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 高位合成 / High-level synthesis  
キーワード(2)(和/英) 演算器バインディング / Functional unit binding  
キーワード(3)(和/英) 過渡故障 / Transient fault  
キーワード(4)(和/英) 誤り検出/訂正 / Error detection/correction  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 邊見 勇登 / Hayato Henmi / ヘンミ ハヤト
第1著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 祐樹 / Yuki Yoshikawa / ヨシカワ ユウキ
第2著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ
第3著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ
第4著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
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講演者
発表日時 2010-11-29 14:50:00 
発表時間 20 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2010-60,IEICE-DC2010-27 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.316(VLD), no.317(DC) 
ページ範囲 pp.25-30 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-VLD-2010-11-22,IEICE-DC-2010-11-22 


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