| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-29 15:45 キャプチャ時消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法 ○沈 揚・細川利典（日大）・吉村正義（九大）  VLD2010-62 DC2010-29 |
|
| 抄録 | （和） | 実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の遷移パターンの消費電力の増大は過度のIRドロップを引き起こし，結果として誤テストを誘発している．キャプチャ時の遷移パターンの消費電力がある指定された閾値を超えるか否かで，テストパターン集合は，キャプチャセーフテストパターン集合とキャプチャアンセーフテストパターン集合に分類される．キャプチャアンセーフテストパターン集合でしか検出できない故障集合をアンセーフ故障集合とし，それ以外の検出故障をセーフ故障とする．この過度なIRドロップのための誤テストを避けるためには，アンセーフ故障に対してキャプチャセーフなテストパターンを生成する必要がある．本論文では，アンセーフ故障に対して検出する疑似外部出力を指定してテスト生成を実行し，そのテストパターンの消費電力を解析する．またセーフテストパターン集合が検出したセーフ故障と検出疑似外部出力のペアの情報を解析に用いる．ITC’99ベンチマーク回路での実験結果から，キャプチャセーフパターンである擬似外部出力で検出されているセーフ故障が，解析用のテストパターンで同じ疑似外部出力でセーフ故障を検出しているとき，その解析用のテストパターン集合の90%が，キャプチャ時の遷移パターンの消費電力が閾値以下であることがわかった． |
| （英） | High launch switching activity in capture mode during at-speed scan testing may lead to excessive IR-drop. Excessive IR-drop causes test-induced yield loss. A test pattern set is classified to a capture-safe pattern set and a capture-unsafe pattern set. If the launch switching activity exceeds the value of threshold, the test patterns are referred to capture-safe patterns. Other patterns are referred to capture-unsafe patterns. Faults detected by only capture-unsafe patterns are defined as unsafe faults. Other faults are defined as safe faults. It is important to generate capture-safe patterns for unsafe faults to avoid test-induced yield loss due to excessive IR-drop. In this paper, test patterns to unsafe faults for analysis are generated and the launch switching activity is analyzed. The information for a pair of a safe faults and its detected pseudo primary output is used for the analysis. Experimental results for ITC’99 benchmark circuits show that 90% of the test patterns for the analysis are capture-safe when a pseudo primary output where safe faults are detected by capture-safe patterns is the same as the pseudo primary output where safe faults are detected by test patterns for the analysis. | |
| キーワード | （和） | キャプチャ時消費電力削減 / 検出疑似外部出力 / キャプチャセーフ / ブロードサイドテスト / / / / |
| （英） | capture power reduction / detected pseudo primary outputs / capture-safe / broad side testing / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 317, DC2010-29, pp. 37-42, 2010年11月. | |
| 資料番号 | DC2010-29 | |
| 発行日 | 2010-11-22 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2010-62 DC2010-29 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2010-11-29 - 2010-12-01 |
| 開催地（和） | 九州大学医学部百年講堂 |
| 開催地（英） | Kyushu University |
| テーマ（和） | デザインガイア2010 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | キャプチャ時消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A decision method of target detected pseudo primary outputs on Low-capture-swithing-activity test generation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | キャプチャ時消費電力削減 / capture power reduction |
| キーワード(2)（和/英） | 検出疑似外部出力 / detected pseudo primary outputs |
| キーワード(3)（和/英） | キャプチャセーフ / capture-safe |
| キーワード(4)（和/英） | ブロードサイドテスト / broad side testing |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 沈 揚 / Yang Shen / シン ヨウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-11-29 15:45:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2010-62, DC2010-29 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.316(VLD), no.317(DC) |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-11-22 (VLD, DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]